Gil Tomás, Daniel Antonio; Gracia Morán, Joaquín; Baraza Calvo, Juan Carlos; Saiz Adalid, Luis José; Gil Vicente, Pedro Joaquín(Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016-06)
As scaling is more and more aggressive, intermittent faults are increasing their importance in current deep submicron complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) technologies. This work shows the dependability assessment ...
Gracia Morán, Joaquín; Saiz Adalid, Luis José(2023-07-03)
En este trabajo se presentan los conceptos básicos y el funcionamiento de los Códigos de Detección y Corrección de Errores. Esta técnica de Tolerancia a Fallos permite detectar y/o corregir errores en diferentes ámbitos ...
Saiz-Adalid, Luis-J.; Reviriego, Pedro; Gil, Pedro; Pontarelli, Salvatore; Maestro, Juan Antonio(Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2015-10)
[EN] Static random access memories (SRAMs) are key in electronic systems. They are used not only as standalone devices, but also embedded in application specific integrated circuits. One key challenge for memories is their ...
Concepción Causera, José Antonio de la(Universitat Politècnica de València, 2012-10-16)
El objetivo principal del presente trabajo es, mediante la recopilación de
distinta información referente a la virtualización y a la computación en la nube,
presentar las opciones posibles para una PYME de optimizar el ...
Saiz Adalid, Luis José(Universitat Politècnica de València, 2010-06)
El libro presenta la memoria de los períodos de docencia e investigación del autor, Luis José Saiz Adalid, conducentes a la obtención del diploma de estudios avanzados y el reconocimiento de la suficiencia investigadora. ...
Saiz Adalid, Luis José(Universitat Politècnica de València, 2021-12-20)
Este libro presenta el portafolio docente desarrollado por el autor, Luis José Saiz Adalid, a lo largo de su formación en el título de experto universitario en pedagogía universitaria, entre 2015 y 2017.
Navarro Domínguez, Jorge(Universitat Politècnica de València, 2011-10-03)
En este proyecto se han diseñado e implementado 3 programas que permiten
demostrar la gran capacidad de cálculo en paralelo de la tecnología OpenCL debido a que
las GPU's actuales disponen de un elevado número de núcleos ...
Baraza Calvo, Juan Carlos; Gracia-Morán, Joaquín; Saiz-Adalid, Luis-J.; Gil Tomás, Daniel Antonio; Gil, Pedro(MDPI AG, 2020-12)
[EN] Due to transistor shrinking, intermittent faults are a major concern in current digital systems. This work presents an adaptive fault tolerance mechanism based on error correction codes (ECC), able to modify its ...
Saiz-Adalid, Luis-J.; Gracia-Morán, Joaquín; Gil Tomás, Daniel Antonio; Baraza Calvo, Juan Carlos; Gil, Pedro(MDPI AG, 2020-11)
[EN] The Bose-Chaudhuri-Hocquenghem (BCH) codes are a well-known class of powerful error correction cyclic codes. BCH codes can correct multiple errors with minimal redundancy. Primitive BCH codes only exist for some word ...
Gil Tomás, Daniel Antonio; Gracia-Morán, Joaquín; Baraza Calvo, Juan Carlos; Saiz-Adalid, Luis-J.; Gil Vicente, Pedro Joaquín(Elsevier, 2012-11)
As CMOS technology scales to the nanometer range, designers have to deal with a growing number and variety of fault types. Particularly, intermittent faults are expected to be an important issue in modern VLSI circuits. ...
Saiz Adalid, Luis José(Universitat Politècnica de València, 2017-06-29)
Este vídeo introduce algunos conceptos básicos sobre el almacenamiento de información en los computadores, y los distintos tipos de memorias de semiconductores que pueden utilizarse en un computador.
Saiz-Adalid, Luis-J.; Gracia-Morán, Joaquín; Gil Tomás, Daniel Antonio; Baraza Calvo, Juan Carlos; Gil, Pedro(Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019-10-14)
[EN] Reliable computer systems employ error control codes (ECCs) to protect information from errors. For example, memories are frequently protected using single error correction-double error detection (SEC-DED) codes. ECCs ...