[EN] MBU is an increasing challenge in SRAM memory, due to the chip's large area of SRAM, and supply power scaling applied to reduce static consumption. Powerful ECCs can cope with random MBUs, but at the expense of complex ...

Intermittent faults, being serious concerns for deep-submicron integrated circuits, are not well studied in the literature. This paper performs fault injection simulation to analyze the impact of intermittent faults, which ...

El vídeo presenta los conceptos necesarios para comprender el funcionamiento y ser capaz de diseñar los circuitos combinacionales denominados codificadores.

[ES] Este trabajo consiste en la utilización de dos prototipos de vehículos autónomos no tripulados, ambos con un sistema de conducción basado en Arduino y equipados con distintos sensores, que serán capaces de comunicarse ...

[ES] El presente documento incluye una extensa explicación del proceso proyectual llevado a cabo al realizar una aplicación de gestión de proyectos para una empresa internacional del sector del automóvil. A lo largo de ...

[ES] Durante estos últimos años, el desarrollo tecnológico ha propiciado un aumento en las prestaciones de los sistemas digitales, pero a costa de reducir su confiabilidad. Por ejemplo, y gracias a la continua reducción ...

Con el siguiente proyecto se propone un nuevo diseño de chasis para PC, en este caso se va a centrar en mejorar su eficiencia tanto calorífica como sonora, intentando conseguir un diseño nuevo de componente hardware altamente ...

[ES] En este proyecto se realiza el diseño e implementación de un clasi cador basado en redes neuronales convolucionales con el objetivo de realizar el etiquetado de objetos 3D con el objetivo de alimentar un sistema de ...

[ES] El presente trabajo tiene como objetivo el diseño del sistema de seguimiento de un robot móvil que servirá como plataforma de pruebas simplificada para vehículos autónomos. Para ello se utilizarán dos robots, los ...

With the scaling of complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) technology to the submicron range, designers have to deal with a growing number and variety of fault types. In this way, intermittent faults are gaining ...