Buscar en RiuNet

Listar

Todo RiuNet

Mi cuenta

Acceder

Ayuda RiuNet

Admin. UPV

Listar por palabra clave "Dependability"

Mostrando ítems 1-6 de 6

Dependability assessment of by-wire control systems using fault injection

Blanc Clavero, Sara; Bonastre Pina, Alberto Miguel; Gil, Pedro (Elsevier, 2009)

This paper is focused on the validation by means of physical fault injection at pin-level of a time-triggered communication controller: the TTP/C versions C1 and C2. The controller is a commercial off-the-shelf product ...
Estudio de futuros desafíos en el desarrollo de productos mecatrónicos en la industria automotriz: análisis de casos de uso relacionados con la seguridad

Saura Pablo, María Belinda del Carmen (Universitat Politècnica de València, 2020-05-14)

[ES] Este trabajo de fin de master se enmarca en la disciplina de desarrollo de productos, en particular en el desarrollo de sistemas mecatrónicos en la industria automotriz. Como se describe en la primera parte, la gran ...
Fortalecimiento de la Ciberseguridad del Sistema de Telecontrol para el Abastecimiento de Agua en la Ciudad de Valencia: Cumplimiento IEC 62443

Barrachina Gimeno, María del Carmen (Universitat Politècnica de València, 2023-10-31)

[ES] El presente Trabajo Final de Máster se centra en el fortalecimiento y la optimización de las redes de comunicación de la empresa gestora de agua, que atiende a la ciudad de Valencia y su área Metropolitana dentro del ...
Improving the process of analysis and comparison of results in dependability benchmarks for computer systems

Martínez Raga, Miquel (Universitat Politècnica de València, 2018-11-05)

Los dependability benchmarks (o benchmarks de confiabilidad en español), están diseñados para evaluar, mediante la categorización cuantitativa de atributos de confiabilidad y prestaciones, el comportamiento de sistemas en ...
Injecting Intermittent Faults for the Dependability Assessment of a Fault-Tolerant Microcomputer System

Gil Tomás, Daniel Antonio; Gracia Morán, Joaquín; Baraza Calvo, Juan Carlos; Saiz Adalid, Luis José; Gil Vicente, Pedro Joaquín (Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016-06)

As scaling is more and more aggressive, intermittent faults are increasing their importance in current deep submicron complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) technologies. This work shows the dependability assessment ...
Towards integrating multi-criteria analysis techniques in dependability benchmarking

Martínez Raga, Miquel (Universitat Politècnica de València, 2014-09-24)

[EN] Increasing integration scales are promoting the development of myriads of new devices and technologies, such smartphones, ad hoc networks, or field-programmable devices, among others. The proliferation of such ...