Barriuso Medrano, Claudio(Universitat Politècnica de València, 2020-09-04)
[ES] Conforme avanza la industria electrónica, los circuitos integrados aumentan en complejidad. Las nuevas capacidades de fabricación permiten integrar en un chip de reducidas dimensiones gran cantidad de transistores.
El ...
Fabregat López, Jorge(Universitat Politècnica de València, 2019-10-09)
[ES] Metodología de verificación mediante el sistema de clases UVM de un sub bloque funcional basado en una memoria OTP Synopsis DesignWare NVM. El bloque incluye el controlador para la memoria, sistemas de detección y ...