Evaluación de la termografía infrarroja para la medida de la temperatura alcanzada por componentes electrónicos

Abstract

[ES] El estudio del calentamiento de componentes electrónicos y de las posibles soluciones para eliminar el calor generado, es fundamental para su buen funcionamiento. Las cámaras infrarrojas son una opción rápida para la detección de puntos calientes sin contacto directo [1]. La medida adecuada de la temperatura con esta técnica requiere del control de muchos parámetros, entre ellos la emisividad del elemento, que a su vez depende de la superficie estudiada. Este trabajo presenta el estudio de la variación de la temperatura de una resistencia para diferentes potencias suministradas, lo que permite estudiar el balance de energía en el elemento resistivo. El análisis se realiza por contacto directo con una sonda K de temperatura, que se utiliza a su vez para caracterizar la emisividad de la resistencia [2]. De esta manera se establecen los parámetros adecuados para la medida termográfica de la resistencia.