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Application of advanced (S)TEM methods for the study of nanostructured porous functional surfaces: A few working examples

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Application of advanced (S)TEM methods for the study of nanostructured porous functional surfaces: A few working examples

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Santos, A.; Lacroix, B.; Maudet, F.; Paumier, F.; Hurand, S.; Dupeyrat, C.; Gómez-Hernández, VJ.... (2022). Application of advanced (S)TEM methods for the study of nanostructured porous functional surfaces: A few working examples. Materials Characterization. 185:1-15. https://doi.org/10.1016/j.matchar.2022.111741

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/198024

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Título: Application of advanced (S)TEM methods for the study of nanostructured porous functional surfaces: A few working examples
Autor: Santos, A.J. Lacroix, B. Maudet, F. Paumier, F. Hurand,S. Dupeyrat, C. Gómez-Hernández, Víctor Jesús Huffaker, D.L. Girardeau, T. García, R. Morales, F.M.
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Instituto Universitario de Tecnología Nanofotónica - Institut Universitari de Tecnologia Nanofotònica
Fecha difusión:
Resumen:
[EN] Nanostructured films offer the ability of modifying surface properties, even more, when they can generate layers with controlled porosity. The lower implicit integrity of these (multi)layers when compared to their ...[+]
Palabras clave: Porous thin film , TEM sample preparation , HRTEM,iDPC-STEM , STEM spectroscopy , STEM-HAADF tomography
Derechos de uso: Reconocimiento - No comercial - Sin obra derivada (by-nc-nd)
Fuente:
Materials Characterization. (issn: 1044-5803 )
DOI: 10.1016/j.matchar.2022.111741
Editorial:
Elsevier
Versión del editor: https://doi.org/10.1016/j.matchar.2022.111741
Código del Proyecto:
info:eu-repo/grantAgreement/FEDER//P-2016 BAFE-209//IMATOP project/
info:eu-repo/grantAgreement/UCA//AGREGADOR 2018-1//Instituto Universitario de Investigación en Microscopía Electrónica y Materiales IMEYMAT/
info:eu-repo/grantAgreement/UCA//LINEAS PRIORITARIAS PLP2019120-3//Instituto Universitario de Investigación en Microscopía Electrónica y Materiales IMEYMAT/
info:eu-repo/grantAgreement/UCA// E-11-2017-0117214//Apoyo a la Atracción de Talento/
info:eu-repo/grantAgreement/UCA//PUENTE PR2018-040/
Agradecimientos:
The authors would like to express their gratitude to Ellen Backen, applications scientist from Thermo Fisher Scientific, for the FIB samples prepared at the Scios 2 HiVac system at Nanoport (Eindhoven) . A. J. Santos would ...[+]
Tipo: Artículo

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