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RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia
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| Application of the Monte Carlo method to analyze materials used in flat panel detectors to obtain X-ray spectra | 1313 |
Visitas al mes
| octubre 2023 | noviembre 2023 | diciembre 2023 | enero 2024 | febrero 2024 | marzo 2024 | abril 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Application of the Monte Carlo method to analyze materials used in flat panel detectors to obtain X-ray spectra | 0 | 1 | 3 | 7 | 0 | 0 | 4 |
Visitas al fichero
| Visualizaciones | |
|---|---|
| paper_A073_DEF_rev_4.pdf | 397 |
| 1 |
Países con más visualizaciones
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Canadá | 477 |
| Francia | 416 |
| Alemania | 306 |
| Estados Unidos | 84 |
| China | 12 |
| Irlanda | 9 |
| España | 3 |
| Holanda | 2 |
| Rusia | 2 |
| Indonesia | 1 |
Ciudades con más visualizaciones
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Montréal | 477 |
| Fontenay-sous-bois | 360 |
| Ashburn | 43 |
| Dublin | 9 |
| Louisville | 4 |
| Villeurbanne | 4 |
| Alameda | 3 |
| Beijing | 3 |
| Des Moines | 3 |
| Hangzhou | 3 |
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