- -

Medida de distancias absolutas de muy alta precisión por interferometría láser

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

Compartir/Enviar a

Citas

Estadísticas

  • Estadisticas de Uso

Medida de distancias absolutas de muy alta precisión por interferometría láser

Mostrar el registro completo del ítem

Grau Ruiz, D. (2016). Medida de distancias absolutas de muy alta precisión por interferometría láser. http://hdl.handle.net/10251/80442.

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/80442

Ficheros en el ítem

Metadatos del ítem

Título: Medida de distancias absolutas de muy alta precisión por interferometría láser
Autor: Grau Ruiz, Daniel
Director(es): Sales Maicas, Salvador
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación - Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació
Universitat Politècnica de València. Departamento de Comunicaciones - Departament de Comunicacions
Fecha acto/lectura:
2016-07-18
Fecha difusión:
Resumen:
En este Trabajo Final de Máster (TFM) se ha realizado una caracterización y evaluación del sistema de medida de distancias absolutas mediante inteferometría heterodina. Se ha observado a aparición de efecto Speckle cuando ...[+]
Palabras clave: interferometría láser , medida , alta precisión
Derechos de uso: Reserva de todos los derechos
Editorial:
Universitat Politècnica de València
Titulación: Máster Universitario en Tecnologías, Sistemas y Redes de Comunicaciones-Màster Universitari en Tecnologies, Sistemes i Xarxes de Comunicacions
Tipo: Tesis de máster

recommendations

 

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro completo del ítem