Alternativas para la monitorización de la capacidad y rendimiento de procesos

[ES] La necesidad de las empresas de aumentar su productividad —y, con ello, la calidad de sus productos— ha impulsado nuevos métodos de monitorización de procesos productivos. En este contexto, el Control Estadístico de Procesos (CEP) ha cobrado relevancia y, a partir de él, se han desarrollado los índices de capacidad de proceso, cuyo objetivo es medir cuantitativamente la capacidad de un proceso para producir conforme a las especificaciones del cliente. Hoy en día, la estimación de estos índices se utiliza en la toma de decisiones a lo largo del ciclo de vida del producto: fabricar o comprar, mejoras que reduzcan la variabilidad del proceso y acuerdos contractuales cliente-proveedor sobre la calidad. Como alternativa a la monitorización clásica de media y variabilidad, es útil implementar un esquema de monitorización de índices de capacidad que permita visualizar el comportamiento del proceso frente a las especificaciones. Vännman (1995) define una familia de índices que depende de dos parámetros no negativos (u y v), la cual generaliza los cuatro índices básicos C_p, C_pk, C_pm, C_pmk. Este trabajo propone adaptar un método de monitorización para la familia de índices de Vännman —con énfasis en los cuatro índices básicos— mediante gráficos de control, a fin de estudiar y caracterizar el comportamiento de la capacidad del proceso.

[EN] The need to increase productivity—and thus product quality—has driven the adoption of new methods for monitoring manufacturing processes. In this context, Statistical Process Control (SPC) has gained prominence, leading to the development of process capability indices, which quantify a process’s ability to meet customer specifications. Today, estimating these indices supports decision-making throughout the product life cycle: make-or-buy choices, process improvements to reduce variability, and customer-supplier quality agreements. As an alternative to monitoring only the mean and variability, it is useful to implement a capability-index monitoring scheme that visualizes process behavior against specifications. Vännman (1995) defined a family of indices depending on two non-negative parameters (u and v) that generalizes the four basic indices C_p, C_pk, C_pm, C_pmk. This thesis proposes adapting a monitoring method for Vännman’s family—emphasizing the four basic indices—using control charts to study and characterize process capability behavior.