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Desarrollo de un sistema para la identificación y control de prototipos electromecánicos y térmicos con Matlab, Labview y la tarjeta de adquisición de datos Advantech 1711l

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Desarrollo de un sistema para la identificación y control de prototipos electromecánicos y térmicos con Matlab, Labview y la tarjeta de adquisición de datos Advantech 1711l

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Formato: PDF
Descripción: Memoria
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Tamaño: 42.99Mb
Formato: application/zip
Descripción: Archivos comprimidos
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dc.contributor.advisor Hilario Caballero, Adolfo es_ES
dc.contributor.author Isla Cernadas, Diego es_ES
dc.date.accessioned 2011-11-08T11:25:34Z
dc.date.available 2011-11-08T11:25:34Z
dc.date.created 2011-07-21
dc.date.issued 2011-11-08
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/12753
dc.language Español es_ES
dc.publisher Universitat Politècnica de València es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject.classification INGENIERIA DE SISTEMAS Y AUTOMATICA es_ES
dc.subject.other Ingeniería Técnica Industrial, esp. en Electrónica Industrial-Enginyeria Tècnica Industrial, esp. en Electrònica Industrial es_ES
dc.title Desarrollo de un sistema para la identificación y control de prototipos electromecánicos y térmicos con Matlab, Labview y la tarjeta de adquisición de datos Advantech 1711l es_ES
dc.type Proyecto/Trabajo fin de carrera/grado es_ES
dc.rights.accessRights Cerrado es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Instituto Universitario de Automática e Informática Industrial - Institut Universitari d'Automàtica i Informàtica Industrial es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Politécnica Superior de Alcoy - Escola Politècnica Superior d'Alcoi es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería de Sistemas y Automática - Departament d'Enginyeria de Sistemes i Automàtica es_ES
dc.description.bibliographicCitation Isla Cernadas, D. (2011). Desarrollo de un sistema para la identificación y control de prototipos electromecánicos y térmicos con Matlab, Labview y la tarjeta de adquisición de datos Advantech 1711l. http://hdl.handle.net/10251/12753. es_ES
dc.description.accrualMethod Archivo delegado es_ES


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