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Parámetros de calidad en sistemas SCM (II)

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Parámetros de calidad en sistemas SCM (II)

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dc.contributor.author Pastor Abellán, Daniel es_ES
dc.date.accessioned 2011-12-09T11:11:51Z
dc.date.available 2011-12-09T11:11:51Z
dc.date.issued 2011-12-09
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/13911
dc.description.abstract Este Laboratorio Virtual permite obtener los principales parámetros de calidad de un sistems SCM (Sub Carrier Multiplexed) como son CNR (Carrier to Noise Ratio), CSO (Composite Second Order), CTB (Composite Triple Beat), y SFDR (Spurius Free Dinamic Range). El Laboratorio Virtual SCM_Loss proporciona los parámetros de calidad en función de las pérdidas totales (dB) de la fibra y los parámetros fundamentales del transmisor, fibra y receptor. es_ES
dc.description.uri https://laboratoriosvirtuales.upv.es/eslabon/SCM_Loss es_ES
dc.language Español es_ES
dc.publisher Universitat Politècnica de València es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject Comunicaciones ópticas es_ES
dc.subject Sistemas con multiplexación por subportadoras es_ES
dc.subject Sistemas analógicos es_ES
dc.subject Transmisión por fibra óptica es_ES
dc.subject.classification TEORIA DE LA SEÑAL Y COMUNICACIONES es_ES
dc.title Parámetros de calidad en sistemas SCM (II) es_ES
dc.type Objeto de aprendizaje es_ES
dc.lom.learningResourceType Laboratorio virtual de simulación es_ES
dc.lom.interactivityLevel Muy alto es_ES
dc.lom.semanticDensity Muy alto es_ES
dc.lom.intendedEndUserRole Alumno es_ES
dc.lom.context Ciclo superior es_ES
dc.lom.difficulty Dificultad media es_ES
dc.lom.typicalLearningTime 60' es_ES
dc.lom.educationalLanguage Español es_ES
dc.upv.convocatoriaDocenciaRed 2011-1 es_ES
dc.upv.ambito PUBLICO es_ES
dc.rights.accessRights Abierto es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación - Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació es_ES
dc.description.bibliographicCitation Pastor Abellán, D. (2011). Parámetros de calidad en sistemas SCM (II). http://hdl.handle.net/10251/13911 es_ES


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