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dc.contributor.author | Martínez De Juan, José Luís | es_ES |
dc.contributor.author | Guijarro Estelles, Enrique Domingo | es_ES |
dc.date.accessioned | 2020-05-20T06:14:01Z | |
dc.date.available | 2020-05-20T06:14:01Z | |
dc.date.issued | 2020-05-20T06:14:01Z | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10251/143797 | |
dc.description.abstract | El objeto de aprendizaje plantea y resuelve un pequeño ejercicio de cálculo de errores de un sensor semiconductor de temperatura (LM35A). Se trabajan cuatro errores característicos de los sensores en general y de estos sensores en particular. | es_ES |
dc.description.uri | https://polimedia.upv.es/visor/?id=9abe8cc0-9438-11ea-8668-77be231105fc | es_ES |
dc.language | Español | es_ES |
dc.publisher | Universitat Politècnica de València | es_ES |
dc.rights | Reconocimiento - No comercial - Compartir igual (by-nc-sa) | es_ES |
dc.subject | Sensor | es_ES |
dc.subject | Instrumentación | es_ES |
dc.subject | Error de medida | es_ES |
dc.subject | Sensor semiconductor temperatura | es_ES |
dc.subject.classification | TECNOLOGIA ELECTRONICA | es_ES |
dc.title | Sensores semiconductores de temperatura: cálculo de parámetros y errores | es_ES |
dc.type | Objeto de aprendizaje | es_ES |
dc.lom.learningResourceType | Screencast | es_ES |
dc.lom.interactivityLevel | Alto | es_ES |
dc.lom.semanticDensity | Muy alto | es_ES |
dc.lom.intendedEndUserRole | Alumno | es_ES |
dc.lom.context | Ciclo superior | es_ES |
dc.lom.difficulty | Dificultad media | es_ES |
dc.lom.typicalLearningTime | 20 minutos | es_ES |
dc.lom.educationalDescription | Debe iniciarse el visionado para entender el planteamiento del problema, pero es conveniente pausarlo antes de ver la solución obtenida para que el estudiante pueda resolverlo de forma autónoma con el uso de las hojas características. Una vez resuelto, terminará el visionado para contrastar los resultados obtenidos. | es_ES |
dc.lom.educationalLanguage | Español | es_ES |
dc.upv.convocatoriaDocenciaRed | 2019-2020 | es_ES |
dc.upv.ambito | PUBLICO | es_ES |
dc.subject.unesco | 3307 - Tecnología electrónica | es_ES |
dc.rights.accessRights | Abierto | es_ES |
dc.contributor.affiliation | Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales - Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials | es_ES |
dc.contributor.affiliation | Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Electrónica - Departament d'Enginyeria Electrònica | es_ES |
dc.description.bibliographicCitation | Martínez De Juan, JL.; Guijarro Estelles, ED. (2020). Sensores semiconductores de temperatura: cálculo de parámetros y errores. http://hdl.handle.net/10251/143797 | es_ES |
dc.description.accrualMethod | DER | es_ES |
dc.relation.pasarela | DER\28052 | es_ES |