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Acondicionamiento y adquisición de datos provenientes de un sensor semiconductor de temperatura

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Acondicionamiento y adquisición de datos provenientes de un sensor semiconductor de temperatura

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Martínez De Juan, JL.; Guijarro Estelles, ED. (2020). Acondicionamiento y adquisición de datos provenientes de un sensor semiconductor de temperatura. http://hdl.handle.net/10251/143802

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Title: Acondicionamiento y adquisición de datos provenientes de un sensor semiconductor de temperatura
Author:
UPV Unit: Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales - Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials
Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Electrónica - Departament d'Enginyeria Electrònica
Issued date:
Abstract:
En el objeto de aprendizaje se plantea un pequeño ejercicio de cálculo de errores debidos a la adquisición (digitalización) de valores de temperatura obtenidos en un sistema de medida de temperaturas. Se presentan también ...[+]
Subjects: Sensor , Instrumentación industrial , Error de medida , Adquisición de datos
UNESCO code: 3307 - Tecnología electrónica
Copyrigths: Reconocimiento - No comercial - Compartir igual (by-nc-sa)
Type: Objeto de aprendizaje
URL: https://polimedia.upv.es/visor/?id=1eceaf90-9439-11ea-8668-77be231105fc
Learning Resource Type: Screencast
Educational description: Debe iniciarse el visionado del vídeo para conocer el planteamiento, pero debe pararse antes de ver los resultados. Así, el estudiante puede resolver de forma autónoma el ejercicio con la ayuda de las hojas características del microcontrolador. Posteriormente se concluye el vídeo para comparar los resultados obtenidos.
Intended End User Role: Alumno
Context: Ciclo superior
Difficulty: Dificultad media
Interactivity Level: Muy alto
Semantic Density: Alto
Typical Learning Time: 15 minutos
Educational language: Español
Access rigths: PUBLICO

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