Análisis eficiente de cámaras semianecoicas en alta frecuencia

Abstract

En este trabajo se presenta una extensión de las técnicas comúnmente más utilizadas en la actualidad para el diseño de cámaras semianecoicas para medidas de EMI. Este modelo esta basado en la teoría de imágenes donde: el equipo bajo prueba (EBP) es representado por un dipolo elemental y el suelo de la cámara es reemplazado por un dipolo imagen obteniendo así la imagen especular de la cámara, convirtiéndola entonces en una cámara anecoica. Posteriormente, las paredes, el techo y el suelo son reemplazados por dipolos imagen cuyas corrientes están relacionadas con la corriente del dipolo original mediante los respectivos coeficientes de reflexión calculados mediante la técnica de óptica geométrica y técnicas de homogeneización y de líneas de transmisión. El campo eléctrico dentro del recinto apantallado es calculado a partir de la contribución del rayo directo proveniente del dipolo original y las contribuciones de los dipolos imagen. En esta herramienta se tiene en cuenta tanto los términos de campo lejano como los términos de campo cercano. Para validar el modelo, se han comparado el valor de NSA calculado con el valor de NSA medido en una cámara real cuya medida se ha realizado a 3 m y los coeficientes de reflexión calculados, los cuales han sido, a su vez, validados comparándolos con resultados publicados en la bibliografía.