Domenech Carbo, A.; Domenech Carbo, MT.; Mai Cerovaz, C. (2020). Aplicación de la técnica de microscopía electrónica por emisión de campo con haz de iones focalizado en el estudio del patrimonio cultural: cerámica arqueológica y fotografía histórica. Arché. (13 - 14 - 15):149-156. http://hdl.handle.net/10251/156595
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Title:
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Aplicación de la técnica de microscopía electrónica por emisión de campo con haz de iones focalizado en el estudio del patrimonio cultural: cerámica arqueológica y fotografía histórica
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Author:
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Domenech Carbo, Antonio
Domenech Carbo, María Teresa
Mai Cerovaz, Carolina
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UPV Unit:
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Universitat Politècnica de València. Departamento de Conservación y Restauración de Bienes Culturales - Departament de Conservació i Restauració de Béns Culturals
Universitat Politècnica de València. Instituto Universitario de Restauración del Patrimonio - Institut Universitari de Restauració del Patrimoni
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Issued date:
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Abstract:
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[ES] Este trabajo nace a partir del interés por profundizar en el conocimiento y exploración de las capacidades de los distintos métodos de análisis de patrimonio cultural basados en técnicas nano invasivas (ng). La ...[+]
[ES] Este trabajo nace a partir del interés por profundizar en el conocimiento y exploración de las capacidades de los distintos métodos de análisis de patrimonio cultural basados en técnicas nano invasivas (ng). La instrumentación de microscopía basada en la tecnología de haz de iones enfocado (FIB) ha ampliado notablemente el alcance de las aplicaciones industriales en el análisis de superficie de materiales en las últimas décadas. Sin embargo, esta técnica apenas se ha aplicado en el examen y análisis del patrimonio cultural. En este estudio se exponen los resultados obtenidos en la adaptación del sistema FIB con un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo convencional microanálisis de rayos X (FESEM-EDX) como una metodología de análisis de superficie aplicada al estudio de cerámica vidriada y a los procesos fotográficos históricos.
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[EN] This work is born from the interest to deepen knowledge and explore capabilities of the different methods
of analysis on cultural heritage based on nanoinvasive techniques (ng). Microscopy instrumentation based on ...[+]
[EN] This work is born from the interest to deepen knowledge and explore capabilities of the different methods
of analysis on cultural heritage based on nanoinvasive techniques (ng). Microscopy instrumentation based on focused ion
beam (FIB) technology has significantly expanded the scope of industrial applications for material surface analysis in
recent decades. However, this technique has scarcely been applied in the examination and analysis of cultural heritage.
This study sets out the results obtained in adapting the FIB system with a conventional X-ray micro-analysis (FESEMEDX) field emission scanning electron microscope as a surface analysis methodology applied to the glazed ceramic study
and historical photographic processes.
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Subjects:
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Non-invasive techniques
,
Historical photography
,
Glazed pottery
,
Cerámica vidriada
,
Fotografía histórica
,
Técnicas no invasivas
,
FIB-FESEM-EDX
,
Patrimonio cultural
,
Microscopía electrónica
,
Electronic microscopy
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Copyrigths:
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Reconocimiento - No comercial (by-nc)
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Source:
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Arché. (issn:
1887-3960
) (eissn:
2445-1150
)
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Publisher:
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Instituto Universitario de Restauración del Patrimonio de la UPV
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Project ID:
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info:eu-repo/grantAgreement/AEI/Plan Estatal de Investigación Científica y Técnica y de Innovación 2013-2016/CTQ2017-85317-C2-1-P/ES/APLICACION DE TECNICAS AVANZADAS DE MICROSCOPIA EN EL ESTUDIO DEL PATRIMONIO CERAMICO Y VITREO/
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Thanks:
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La presente investigación está financiada con los proyectos I+D: CTQ2017-85317-C2-1-P cofinanciado por el Ministerio de Ciencia Innovación y Universidades, el Fondo Europeo de Desarrollo Regional (ERDF) y la Agencia Estatal ...[+]
La presente investigación está financiada con los proyectos I+D: CTQ2017-85317-C2-1-P cofinanciado por el Ministerio de Ciencia Innovación y Universidades, el Fondo Europeo de Desarrollo Regional (ERDF) y la Agencia Estatal de Investigación (AEI). Los autores agradecen la colaboración de Manuel Planes, José Luis Moya y Alicia Nuez, técnicos del Servicio de Microscopía Electrónica de la Universitat Politècnica de València. Los autores desean expresar su agradecimiento a Josep Pérez, Director del Museo de Cerámica de Manises que ha facilitado el fragmento de cerámica objeto de estudio.
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Type:
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Artículo
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