- -

Caracterización de los mutantes del gen patellin "PATL involucrad PATL" de Arabidopsis thaliana, involucrados en resistencia a bajas temperaturas

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

Compartir/Enviar a

Citas

Estadísticas

Caracterización de los mutantes del gen patellin "PATL involucrad PATL" de Arabidopsis thaliana, involucrados en resistencia a bajas temperaturas

Mostrar el registro completo del ítem

Aguilella Segura, A. (2012). Caracterización de los mutantes del gen patellin "PATL involucrad PATL" de Arabidopsis thaliana, involucrados en resistencia a bajas temperaturas. http://hdl.handle.net/10251/18183.

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/18183

Ficheros en el ítem

[Cerrado]
Nombre: TFM_Anna_Aguilell ...
Tamaño: 15.19Mb
Formato: PDF
Solicitar una copia al autor

Metadatos del ítem

Título: Caracterización de los mutantes del gen patellin "PATL involucrad PATL" de Arabidopsis thaliana, involucrados en resistencia a bajas temperaturas
Autor:
Director(es): Mulet Salort, José Miguel
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Servicio de Alumnado - Servei d'Alumnat
Fecha difusión:
Fecha acto/lectura: 2012-09-26
Resumen:
[ES] Estudio sobre la implicación de los genes PATL (patellin) de A. thaliana en la resistencia a bajas temperaturas, trabajando con líneas mutantes simples (patl1-6), y con líneas mutantes dobles, sometiéndolas a ...[+]


[EN] Study on the involvement of genes PATL (patellin) of A. thaliana in resistance at low temperatures by working with single mutants lines (patl1-6), and with double mutants lines, subjecting them to various types of ...[+]
Palabras clave: Estrés , Frio , Patl , Stress , Cold
Derechos de uso: Cerrado
Titulación: Máster Universitario en Biotecnología Molecular y Celular de Plantas-Màster Universitari en Biotecnologia Molecular i Cel·Lular de Plantes
Tipo: Tesis de máster

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro completo del ítem