Caracterización de xerogel para su uso en dispositivos fotónicos

Abstract

[ES] En numerosas aplicaciones nanofotónicas se buscan emplear materiales ligeros y porosos para poder implementarlos a nivel industrial y obtener materiales los cuales puedes controlar su porosidad y estructura. Esto permite adecuarla en todo momento a una aplicación concreta. Con el desarrollo de las tecnologías y los equipos que sustituyen a los procesos convencionales podemos obtener aún una mayor precisión. En este trabajo de TFG se presenta el desarrollo para realizar un xerogel de ultra bajo índice, para ello deberemos de conseguir un material poroso. En el rango visible no vamos a realizar ningún tipo de tarea por lo que no tendremos en cuenta el comportamiento que tenga nuestro material a esas frecuencias. Se ha llevado a cabo un estudio completo con las fases de desarrollo (síntesis de xerogel, modelo de reflexión FTIR, modelo teórico, reflectometría y estudio de la permitividad) antes para, más adelante, realizar una programación para la extracción de las propiedades electromagnéticas mediante algoritmo genético y una comprobación experimental para la caracterización de índices de refracción.

[EN] In many nano-photonic applications, light and porous materials are used in order to implement them at an industrial level and to obtain materials whose porosity and structure can be con-trolled. This makes it possible to adapt it at any time to a specific application. With the devel-opment of technologies and equipment that replace conventional processes, we can obtain even greater precision.

In this TFG work we present the development to make an ultra low index xerogel, for this we must obtain a porous material. In the visible range we are not going to perform any kind of task, so we will not take into account the behavior of our material at those frequencies. A com-plete study has been carried out with the development phases (xerogel synthesis, FTIR reflec-tion model, theoretical model, refle-xometry and permittivity study) before to, later, carry out a programming for the extraction of the electromagnetic properties by means of genetic algorithm and an experimental verification for the characterization of refractive indices.