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dc.contributor.advisor | Orts Grau, Salvador | es_ES |
dc.contributor.author | Calvo Llopis, Alex | es_ES |
dc.date.accessioned | 2023-10-04T12:49:48Z | |
dc.date.available | 2023-10-04T12:49:48Z | |
dc.date.created | 2023-09-11 | |
dc.date.issued | 2023-10-04 | es_ES |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10251/197546 | |
dc.description.abstract | [ES] El proyecto se basa en la preparación y automatización de los procesos de una máquina de testeo de chips fotónicos (Wafer Level Tester), el cual estará compuesto de la explicación teórica de los procesos a realizar, la instrumentación a utilizar y conceptos relacionados con el campo a trabajar, ya sea la tecnología de los chips y los componentes o el funcionamiento de la máquina de medición mediante visión artificial y control de ejes. Se prepararán y automatizarán los instrumentos para las pruebas ópticas, eléctricas y de radiofrecuencia, además del diseño y modelado de piezas en Solidworks para la implementación de una herramienta de calibración de las sondas en la máquina, realizando las respectivas pruebas y prototipos. Los procesos de testeo a realizar, los equipos de medida y el procesado de los datos finales obtenidos, se automatizarán mediante el entorno de programación de Python. | es_ES |
dc.description.abstract | [EN] The project is based on the preparation and automation of the processes of a photonic chip testing machine (Wafer Level Tester), which will be composed of the theoretical explanation of the processes to be carried out, the instrumentation to be used and related concepts with the field to be worked on, whether it is the technology of the chips and components or the operation of the measuring machine through artificial vision and axis control. The instruments for optical, electrical and radio frequency tests will be prepared and automated, in addition to the design and modeling of parts in Solidworks for the implementation of a calibration tool for the probes in the machine, carrying out the respective tests and prototypes. The testing processes to be carried out, the measurement equipment and the processing of the final data obtained will be automated using the Python programming environment. | es_ES |
dc.format.extent | 97 | es_ES |
dc.language | Español | es_ES |
dc.publisher | Universitat Politècnica de València | es_ES |
dc.rights | Reserva de todos los derechos | es_ES |
dc.subject | Automatización | es_ES |
dc.subject | Moduladores Fotónicos | es_ES |
dc.subject | Testeo de Circuitos Integrados | es_ES |
dc.subject | Visión Artificial | es_ES |
dc.subject | Automation | es_ES |
dc.subject | Photonic Modulators | es_ES |
dc.subject | Integrated Circuit Testing | es_ES |
dc.subject | Artificial Vision | es_ES |
dc.subject.classification | TECNOLOGIA ELECTRONICA | es_ES |
dc.subject.other | Máster Universitario en Ingeniería Mecatrónica-Màster Universitari en Enginyeria Mecatrònica | es_ES |
dc.title | Automatización de procesos y equipos de medida para testeo de moduladores fotónicos con grafeno en tecnología de Nitruro de Silicio. | es_ES |
dc.title.alternative | Automation of processes and measurement equipment for testing photonic modulators with graphene in Silicon Nitride technology | es_ES |
dc.title.alternative | Automatització de processos i equips de mesura per a testeig de moduladors fotònics amb grafè en tecnologia de Nitrur de Silici | es_ES |
dc.type | Tesis de máster | es_ES |
dc.rights.accessRights | Cerrado | es_ES |
dc.contributor.affiliation | Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Electrónica - Departament d'Enginyeria Electrònica | es_ES |
dc.contributor.affiliation | Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingeniería del Diseño - Escola Tècnica Superior d'Enginyeria del Disseny | es_ES |
dc.description.bibliographicCitation | Calvo Llopis, A. (2023). Automatización de procesos y equipos de medida para testeo de moduladores fotónicos con grafeno en tecnología de Nitruro de Silicio. Universitat Politècnica de València. http://hdl.handle.net/10251/197546 | es_ES |
dc.description.accrualMethod | TFGM | es_ES |
dc.relation.pasarela | TFGM\155300 | es_ES |