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Echeverri-Ocampo, I.; Ardila, K.; Molina Mateo, J.; Padilla-Buritica, JI.; Carceller, H.; Barcelo-Martinez, EA.; Llamur, SI.... (2023). EEG-Based Functional Connectivity Analysis for Cognitive Impairment Classification. Electronics. 12(21). https://doi.org/10.3390/electronics12214432
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/203930
Título: | EEG-Based Functional Connectivity Analysis for Cognitive Impairment Classification | |
Autor: | Echeverri-Ocampo, Isabel Ardila, Karen Padilla-Buritica, J. I. Carceller, Héctor Barcelo-Martinez, Ernesto A. Llamur, S. I. de la Iglesia-Vaya, María | |
Entidad UPV: |
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Fecha difusión: |
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Resumen: |
[EN] Understanding how mild cognitive impairment affects global neural networks may explain changes in brain electrophysiology. Using graph theory and the visual oddball paradigm, we evaluated the functional connectivity ...[+]
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Palabras clave: |
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Derechos de uso: | Reconocimiento (by) | |
Fuente: |
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DOI: |
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Editorial: |
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Versión del editor: | https://doi.org/10.3390/electronics12214432 | |
Código del Proyecto: |
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