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Diseño e implementación de un tester Hass (Highly Accelerated Stress Screen) para la detección de fallos en tarjetas de aeroespacio

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Diseño e implementación de un tester Hass (Highly Accelerated Stress Screen) para la detección de fallos en tarjetas de aeroespacio

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dc.contributor.advisor Ballester Merelo, Francisco José es_ES
dc.contributor.advisor Pinedo Puig, Hilario es_ES
dc.contributor.author Sánchez Navarro, Ángel es_ES
dc.date.accessioned 2024-09-26T15:30:17Z
dc.date.available 2024-09-26T15:30:17Z
dc.date.created 2024-07-08 es_ES
dc.date.issued 2024-09-26 es_ES
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/208740
dc.description.abstract [ES] El presente trabajo final de Máster trata del diseño e implementación de un tester de tipo Hass para la detección de fallos en la producción de tarjetas electrónicas de unas determinadas características en el sector aeroespacial. Este banco de pruebas es pedido a la empresa Celestica Valencia por un cliente del sector Aeroespacio, después de detectar que una de sus tarjetas presentes en ciertos aviones se estropean debido a las condiciones tan adversas que sufren cuando el avión está en funcionamiento. En este proyecto me encuentro trabajando actualmente dentro de la empresa, por lo que esta misma actividad será mi TFM. Bajo esta premisa, se deberá de diseñar y construir una Fixture capaz de someter a una serie de 10 de estas tarjetas a un estrés térmico, el cual se va a realizar dentro de una cámara climática de la empresa, la cual nos proporcionará las oscilaciones de temperaturas exigidas por el cliente. El banco de pruebas también deberá de ser programado para realizar ciclos de encendido y apagado de las tarjetas durante horas, para de esta manera simular las condiciones a las que se ven sometidas en su actividad dentro del avión. Con todo esto, el sistema deberá de detectar aquellas tarjetas que tras realizar los ciclos completos no se han roto y han dejado de funcionar, de esta manera tras terminar el test, las tarjetas dañadas pasarán a un estado de reparación y aquellas que han superado el test serán devueltas al cliente con la certeza de que estas tarjetas están en perfectas condiciones. es_ES
dc.description.abstract [EN] This Master's thesis deals with the design and implementation of a Hass type tester for the detection of faults in the production of electronic cards of certain characteristics in the aerospace sector. This test bench was requested from the company Celestica Valencia by a client in the Aerospace sector, after detecting that one of their cards present in certain aircraft were breaking down due to the adverse conditions they suffer when the aircraft is in operation. I am currently working on this project within the company, so this same activity will be my TFM. Under this premise, a Fixture must be designed and built capable of subjecting a series of 10 of these cards to thermal stress, which will be carried out inside a climatic chamber of the company, which will provide us with the temperature oscillations required by the client. The test bench will also have to be programmed to cycle the cards on and off for hours, in order to simulate the conditions to which they are subjected during their activity inside the aircraft. With all this, the system will have to detect those cards that after completing the complete cycles have not broken and have stopped working, in this way, after finishing the test, the damaged cards will pass to a state of repair and those that have passed the test will be returned to the client with the certainty that these cards are in good working order. en_EN
dc.format.extent 1 es_ES
dc.language Español es_ES
dc.publisher Universitat Politècnica de València es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject Fixture es_ES
dc.subject Hass es_ES
dc.subject ESS es_ES
dc.subject PCB es_ES
dc.subject Tester es_ES
dc.subject Aeroespacio es_ES
dc.subject DUT es_ES
dc.subject Aerospace en_EN
dc.subject.classification TECNOLOGIA ELECTRONICA es_ES
dc.subject.other Máster Universitario en Ingeniería de Telecomunicación-Màster Universitari en Enginyeria de Telecomunicació es_ES
dc.title Diseño e implementación de un tester Hass (Highly Accelerated Stress Screen) para la detección de fallos en tarjetas de aeroespacio es_ES
dc.title.alternative Design and implementation of a Hass (Highly Accelerated Stress Screen) tester for the detection of failures in aerospace electronic cards es_ES
dc.title.alternative Disseny i implementació d'un tester Hass (Highly Accelerated Stress Screen) per a la detecció de fallades en targetes de aeroespacio es_ES
dc.type Tesis de máster es_ES
dc.rights.accessRights Cerrado es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Electrónica - Departament d'Enginyeria Electrònica es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación - Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació es_ES
dc.description.bibliographicCitation Sánchez Navarro, Á. (2024). Diseño e implementación de un tester Hass (Highly Accelerated Stress Screen) para la detección de fallos en tarjetas de aeroespacio. Universitat Politècnica de València. http://hdl.handle.net/10251/208740 es_ES
dc.description.accrualMethod TFGM es_ES
dc.relation.pasarela TFGM\164000 es_ES


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