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Analysis of wedge-shaped waveguides and design of multipactor-resistant microwave bandpass filters. Análisis de guías de onda en forma de cuña y diseño de filtros de microondas paso-banda resistentes al efecto multipactor.

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Analysis of wedge-shaped waveguides and design of multipactor-resistant microwave bandpass filters. Análisis de guías de onda en forma de cuña y diseño de filtros de microondas paso-banda resistentes al efecto multipactor.

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Hueso González, J. (2013). Analysis of wedge-shaped waveguides and design of multipactor-resistant microwave bandpass filters. Análisis de guías de onda en forma de cuña y diseño de filtros de microondas paso-banda resistentes al efecto multipactor [Tesis doctoral]. Editorial Universitat Politècnica de València. doi:10.4995/Thesis/10251/33750.

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/33750

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Título: Analysis of wedge-shaped waveguides and design of multipactor-resistant microwave bandpass filters. Análisis de guías de onda en forma de cuña y diseño de filtros de microondas paso-banda resistentes al efecto multipactor.
Autor:
Director(es): Boria Esbert, Vicente Enrique GIMENO MARTINEZ, BENITO
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Comunicaciones - Departament de Comunicacions
Fecha difusión:
Fecha acto/lectura: 2013-10-29
Resumen:
El efecto multipactor de ruptura en RF ha sido objeto de numerosos estudios desde hace más de 80 años, a partir del desarrollo de los primeros aceleradores de partículas en la primera mitad del siglo XX. A mediados de ...[+]


The multipactor RF breakdown effect has been object of numerous studies for over 80 years, since the development of the first particle accelerators in the beginning of the 20th century. Around the middle of that century, ...[+]
Palabras clave: Bandpass filters , Circuit synthesis , Microwave filters , Multipactor , Space technology , Vacuum breakdown , Wedge-shaped waveguide , High-power testing , Effective electron , Secondary emission , Threshold prediction
Derechos de uso: Reserva de todos los derechos
ISBN: 978-84-9048-066-3
DOI: 10.4995/Thesis/10251/33750
Editorial:
Editorial Universitat Politècnica de València
Tipo: Tesis doctoral

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