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Gil Tomás, DA.; Gracia-Morán, J.; Baraza Calvo, JC.; Saiz-Adalid, L.; Gil Vicente, PJ. (2012). Studying the effects of intermittent faults on a microcontroller. Microelectronics Reliability. 52(11):2837-2846. https://doi.org/10.1016/j.microrel.2012.06.004
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/36000
Título: | Studying the effects of intermittent faults on a microcontroller | |
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Entidad UPV: |
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Resumen: |
As CMOS technology scales to the nanometer range, designers have to deal with a growing number and variety of fault types. Particularly, intermittent faults are expected to be an important issue in modern VLSI circuits. ...[+]
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Palabras clave: |
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Derechos de uso: | Reserva de todos los derechos | |
Fuente: |
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DOI: |
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Editorial: |
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Versión del editor: | http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2012.06.004 | |
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