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InN thin film lattice dynamics by grazing incidence inelastic x-ray scattering

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InN thin film lattice dynamics by grazing incidence inelastic x-ray scattering

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Serrano, J.; Bosak, A.; Krisch, M.; Manjón Herrera, FJ.; Romero, AH.; Garro, N.; Wang, X.... (2011). InN thin film lattice dynamics by grazing incidence inelastic x-ray scattering. Physical Review Letters. 106(20):2055011-2055014. doi:10.1103/PhysRevLett.106.205501.

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/47458

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Metadatos del ítem

Título: InN thin film lattice dynamics by grazing incidence inelastic x-ray scattering
Autor:
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Instituto de Diseño para la Fabricación y Producción Automatizada - Institut de Disseny per a la Fabricació i Producció Automatitzada
Universitat Politècnica de València. Departamento de Física Aplicada - Departament de Física Aplicada
Fecha difusión:
Resumen:
Achieving comprehensive information on thin film lattice dynamics so far has eluded well established spectroscopic techniques. We demonstrate here the novel application of grazing incidence inelastic x-ray scattering ...[+]
Palabras clave: Fundamental-band gap , Hexagonal InN , Wurtzite aln , Pseudopotentials
Derechos de uso: Reserva de todos los derechos
Fuente:
Physical Review Letters. (issn: 0031-9007 ) (eissn: 1079-7114 )
DOI: 10.1103/PhysRevLett.106.205501
Editorial:
American Physical Society
Versión del editor: http://journals.aps.org/prl/abstract/10.1103/PhysRevLett.106.205501
Patrocinador:
Spanish Ministry of Science and Innovation by CICYT MAT2010-2-129-C02-01 ENE2008-04373
Generalitat de Catalunya 2009SGR1251
CICYT CSD2007-00045 MAT2010-21270-C04-04
Universidad Politecnica de Valencia UPV2010-0096
CONACyT Mexico TAMU-Conacyt J-83247-F
Tipo: Artículo

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