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Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X.

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Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X.

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Gallardo Bermell, S.; Pozuelo, F.; Querol Vives, A.; Ródenas Diago, J.; Verdú Martín, GJ. (2013). Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X. Grupo Senda. http://hdl.handle.net/10251/49076

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Title: Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X.
Author: Gallardo Bermell, Sergio Pozuelo, Fausto Querol Vives, Andrea Ródenas Diago, José Verdú Martín, Gumersindo Jesús
UPV Unit: Universitat Politècnica de València. Instituto de Seguridad Industrial, Radiofísica y Medioambiental - Institut de Seguretat Industrial, Radiofísica i Mediambiental
Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Química y Nuclear - Departament d'Enginyeria Química i Nuclear
Issued date:
Abstract:
[ES] En este trabajo se propone el uso de un detector flat panel junto a una cuña de polimetilmetacrilato (PMMA) para estimar el espectro de rayos X utilizando el método de Monte Carlo y técnicas de reconstrucción. El ...[+]
Subjects: Monte Carlo , MCNP5 , Flat panel , Centelleadores , MTSVD
Copyrigths: Reserva de todos los derechos
Publisher:
Grupo Senda
Publisher version: http://www.inscripcioneventos.com/906809/docs/906809-565814.doc
Conference name: 39º Reunión Anual de la Sociedad Nuclear Española (SNE), en las instalaciones de “FiraReus”
Conference place: Reus, Spain
Conference date: September 25-27, 2013
Thanks:
A la beca de Formación de Profesorado Universitario (FPU) del Ministerio de Educación y Ciencia, referencia AP2009-2600.
Type: Comunicación en congreso

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