Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X.

Abstract

[ES] En este trabajo se propone el uso de un detector flat panel junto a una cuña de polimetilmetacrilato (PMMA) para estimar el espectro de rayos X utilizando el método de Monte Carlo y técnicas de reconstrucción. El código MCNP5 se ha utilizado para modelar distintos flat panel y obtener las curvas de dosis y las funciones respuesta del sistema. La mayor parte de los flat panel actuales utilizan materiales que presentan discontinuidades debidas al borde K en el coeficiente másico de absorción de energía lo que influye en la matriz de respuesta y, por tanto, en los espectros reconstruidos. Distintos métodos de reconstrucción se han utilizado para obtener el espectro de rayos X conociendo la curva de dosis y la función respuesta. Los resultados demuestran que el método truncado modificado de descomposición de valores singulares (MTSVD) es apropiado para reconstruir los espectros de rayos X con los materiales centelleadores estudiados en el presente trabajo.