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Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X.

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X.

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Gallardo Bermell, S.; Pozuelo, F.; Querol Vives, A.; Ródenas Diago, J.; Verdú Martín, GJ. (2013). Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X. Grupo Senda. http://hdl.handle.net/10251/49076.

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Metadatos del ítem

Título: Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X.
Autor:
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Instituto de Seguridad Industrial, Radiofísica y Medioambiental - Institut de Seguretat Industrial, Radiofísica i Mediambiental
Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Química y Nuclear - Departament d'Enginyeria Química i Nuclear
Fecha difusión:
Resumen:
[ES] En este trabajo se propone el uso de un detector flat panel junto a una cuña de polimetilmetacrilato (PMMA) para estimar el espectro de rayos X utilizando el método de Monte Carlo y técnicas de reconstrucción. El ...[+]
Palabras clave: Monte Carlo , MCNP5 , Flat panel , Centelleadores , MTSVD
Derechos de uso: Reserva de todos los derechos
Editorial:
Grupo Senda
Versión del editor: http://www.inscripcioneventos.com/906809/docs/906809-565814.doc
Título del congreso: 39º Reunión Anual de la Sociedad Nuclear Española (SNE), en las instalaciones de “FiraReus”
Lugar del congreso: Reus, Spain
Fecha congreso: September 25-27, 2013
Patrocinador:
Ministerio de Educación y Ciencia, AP2009-2600
Tipo: Comunicación en congreso

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