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Dielectric Bed of Nails in Gap-Waveguide Technology at Millimeter-Wave Frequencies

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Dielectric Bed of Nails in Gap-Waveguide Technology at Millimeter-Wave Frequencies

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Nombre: MWCL Dielectric ...
Tamaño: 4.984Mb
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Descripción: Versión del Autor.
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Nombre: Sanchez-Escuderos, ...
Tamaño: 537.3Kb
Formato: PDF
Descripción: Versión editorial
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dc.contributor.author Sánchez Escuderos, Daniel es_ES
dc.contributor.author Ferrando Bataller, Miguel es_ES
dc.contributor.author Berenguer Verdú, Antonio José es_ES
dc.contributor.author Baquero Escudero, Mariano es_ES
dc.contributor.author Valero-Nogueira, Alejandro es_ES
dc.date.accessioned 2015-09-08T11:34:15Z
dc.date.available 2015-09-08T11:34:15Z
dc.date.issued 2014-08
dc.identifier.issn 1531-1309
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/54396
dc.description "(c) 20xx IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other users, including reprinting/ republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted components of this work in other works." es_ES
dc.description.abstract Gap-waveguide technology is based on the guidance of a quasi-TEMmode between two PEC plates. The confinement is possible due to a PEC/PMC condition on laterals, which prohibits the propagation of waves on those directions. PMC condition is commonly created by means of a metallic bed of nails. This letter examines the possibility of using a dielectric bed of nails to impose the PMC condition. The use of such kind of nails may facilitate the insertion of active components. Measurements for a straight transmission line and a power divider are included to verify the correct behavior of the dielectric bed of nails. es_ES
dc.description.sponsorship This work was supported by the Spanish Ministry of Education and Science (Ministerio de Educacion y Ciencia) under the projects TEC2010-20841-C04-01 and CSD2008-00068. en_EN
dc.language Inglés es_ES
dc.publisher Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) es_ES
dc.relation.ispartof IEEE Microwave and Wireless Components Letters es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject Dielectric EBG es_ES
dc.subject Electromagnetic bandgap (EBG) structures es_ES
dc.subject Gap-waveguide es_ES
dc.subject Millimeter-wave technology es_ES
dc.subject.classification TEORIA DE LA SEÑAL Y COMUNICACIONES es_ES
dc.title Dielectric Bed of Nails in Gap-Waveguide Technology at Millimeter-Wave Frequencies es_ES
dc.type Artículo es_ES
dc.identifier.doi 10.1109/LMWC.2014.2321496
dc.relation.projectID info:eu-repo/grantAgreement/MICINN//TEC2010-20841-C04-01/ES/ANTENAS EN LA BANDA DE MILIMETRICAS PARA APLICACIONES INALAMBRICAS DE ALTA VELOCIDAD/ es_ES
dc.relation.projectID info:eu-repo/grantAgreement/MICINN//CSD2008-00068/ES/Tecnología de terahercios para aplicaciones de obtención de información mediante sensores electromagnéticos/ es_ES
dc.rights.accessRights Abierto es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Instituto Universitario de Telecomunicación y Aplicaciones Multimedia - Institut Universitari de Telecomunicacions i Aplicacions Multimèdia es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Departamento de Comunicaciones - Departament de Comunicacions es_ES
dc.description.bibliographicCitation Sánchez Escuderos, D.; Ferrando Bataller, M.; Berenguer Verdú, AJ.; Baquero Escudero, M.; Valero-Nogueira, A. (2014). Dielectric Bed of Nails in Gap-Waveguide Technology at Millimeter-Wave Frequencies. IEEE Microwave and Wireless Components Letters. 24(8):515-517. https://doi.org/10.1109/LMWC.2014.2321496 es_ES
dc.description.accrualMethod S es_ES
dc.relation.publisherversion http://dx.doi.org/10.1109/LMWC.2014.2321496 es_ES
dc.description.upvformatpinicio 515 es_ES
dc.description.upvformatpfin 517 es_ES
dc.type.version info:eu-repo/semantics/publishedVersion es_ES
dc.description.volume 24 es_ES
dc.description.issue 8 es_ES
dc.relation.senia 269051 es_ES


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