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Optical phase characterization of photonic integrated devices

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Optical phase characterization of photonic integrated devices

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Matres Abril, J.; Ballesteros García, G.; Mas Gomez, SM.; Brimont, ACJ.; Sanchis Kilders, P.; Martí Sendra, J.; Oton Nieto, CJ. (2014). Optical phase characterization of photonic integrated devices. IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics. 20(4). doi:10.1109/JSTQE.2013.2292511

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/54634

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Título: Optical phase characterization of photonic integrated devices
Autor:
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Instituto Universitario de Tecnología Nanofotónica - Institut Universitari de Tecnologia Nanofotònica
Universitat Politècnica de València. Departamento de Comunicaciones - Departament de Comunicacions
Fecha difusión:
Resumen:
We propose a relatively simple experimental setup, capable of accurately characterizing the optical phase response of an integrated photonic circuit. The setup is based on a phase-noise reduction scheme using an external ...[+]
Palabras clave: Integrated optics , Nonlinear optics , Optical resonators , Phase detection , Photonic integrated circuits , Silicon photonics
Derechos de uso: Cerrado
Fuente:
IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics. (issn: 1077-260X ) (eissn: 1558-4542 )
DOI: 10.1109/JSTQE.2013.2292511
Editorial:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1109/JSTQE.2013.2292511
Agradecimientos:
This work was supported by the Spanish Ministry of Science and Innovation through SINADEC (TEC2008-06333), LEOMIS (TEC2012-38540), and PROMETEO/2010/087 NANOFOTONICA Contracts, Universidad Politecnica de Valencia for ...[+]
Tipo: Artículo

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