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Application of the MTSVD unfolding method for reconstruction of primary X-ray spectra using semiconductor detectors.

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Application of the MTSVD unfolding method for reconstruction of primary X-ray spectra using semiconductor detectors.

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Gallardo Bermell, S.; Ródenas Diago, J.; Querol Vives, A.; Verdú Martín, GJ. (2011). Application of the MTSVD unfolding method for reconstruction of primary X-ray spectra using semiconductor detectors. Progress in Nuclear Energy. 53(8):1136-1139. doi:10.1016/j.pnucene.2011.06.013

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/56973

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Título: Application of the MTSVD unfolding method for reconstruction of primary X-ray spectra using semiconductor detectors.
Autor:
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Química y Nuclear - Departament d'Enginyeria Química i Nuclear
Universitat Politècnica de València. Instituto de Seguridad Industrial, Radiofísica y Medioambiental - Institut de Seguretat Industrial, Radiofísica i Mediambiental
Fecha difusión:
Resumen:
A thorough knowledge of the primary spectrum is very important to perform a quality control (QC) of X-ray tubes. In previous works, a methodology to assess primary spectrum using a Compton spectrometer and applying the ...[+]
Palabras clave: X-ray , Unfolding , Semiconductor detectors , Quality control
Derechos de uso: Cerrado
Fuente:
Progress in Nuclear Energy. (issn: 0149-1970 )
DOI: 10.1016/j.pnucene.2011.06.013
Editorial:
Elsevier
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1016/j.pnucene.2011.06.013
Tipo: Artículo

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