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Fallos intermitentes: análisis de causas y efectos, nuevos modelos de fallos y técnicas de mitigación

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Fallos intermitentes: análisis de causas y efectos, nuevos modelos de fallos y técnicas de mitigación

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Saiz Adalid, LJ. (2015). Fallos intermitentes: análisis de causas y efectos, nuevos modelos de fallos y técnicas de mitigación [Tesis doctoral]. Universitat Politècnica de València. https://doi.org/10.4995/Thesis/10251/59452

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/59452

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Título: Fallos intermitentes: análisis de causas y efectos, nuevos modelos de fallos y técnicas de mitigación
Autor: Saiz Adalid, Luis José
Director(es): Baraza Calvo, Juan Carlos Gil Vicente, Pedro Joaquín Gracia Morán, Joaquín
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Informática de Sistemas y Computadores - Departament d'Informàtica de Sistemes i Computadors
Fecha acto/lectura:
2015-12-18
Fecha difusión:
Resumen:
[EN] From the first integrated circuit was developed to very large scale integration (VLSI) technology, the hardware of computer systems has had an immense evolution. Moore's Law, which predicts that the number of transistors ...[+]


[ES] Desde la invención del primer circuito integrado hasta la tecnología de muy alta escala de integración (VLSI), el hardware de los sistemas informáticos ha evolucionado enormemente. La Ley de Moore, que vaticina que ...[+]


[CA] Des de la invenció del primer circuit integrat fins a la tecnologia de molt alta escala d'integració (VLSI), el maquinari dels sistemes informàtics ha evolucionat enormement. La Llei de Moore, que vaticina que el ...[+]
Palabras clave: Fallos intermitentes , Códigos correctores de errores , Diseño digital , Tecnología VLSI , Confiabilidad , Tolerancia a fallos , Inyección de fallos , Modelado y simulación
Derechos de uso: Reserva de todos los derechos
DOI: 10.4995/Thesis/10251/59452
Editorial:
Universitat Politècnica de València
Tipo: Tesis doctoral

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