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Igual García, J.; Salazar Afanador, A.; Safont Armero, G.; Vergara Domínguez, L. (2015). Semi-supervised bayesian classification of materials with impact-echo signals. Sensors. 15(5):11528-11550. https://doi.org/10.3390/s150511528
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/67602
Título: | Semi-supervised bayesian classification of materials with impact-echo signals | |
Autor: | ||
Entidad UPV: |
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Fecha difusión: |
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Resumen: |
[EN] The detection and identification of internal defects in a material require the
use of some technology that translates the hidden interior damages into observable signals
with different signature-defect correspondences. ...[+]
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Palabras clave: |
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Derechos de uso: | Reconocimiento (by) | |
Fuente: |
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DOI: |
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Editorial: |
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Versión del editor: | http://dx.doi.org/10.3390/s150511528 | |
Código del Proyecto: |
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