Modelizar la distorsión de un Op-amp ante una señal OFDM. Programación de un firmware de test mediante comandos AT

Abstract

1.- Se trata de caracterizar la distorsión que generan los transistores que componen un amplificador operacional. En particular, de todos los amplificadores que contiene un AFE (Analog-Front-End) nos fijaremos en el driver de salida, ya que es éste el que genera mayor distorsión. Se trata de obtener una simulación en tiempo real de estos valores, y de esta forma, poder corregirla en la parte digital del circuito integrado. Tener un modelo de distorsión implica ventajas tanto para el cliente, reflejadas en unas especificaciones mucho más precisas del AFE como para el departamento de diseño digital, el cual es el encargado de hacer la corrección de dicha distorsión. El objetivo es conocer cuál es el valor MTPR que podemos manejar en cada etapa del AFE, especialmente el valor inicial y tendencia. 2.- El objetivo es realizar el firmware de test mediante comandos AT. Este firmware tiene que comprobar el correcto funcionamiento de todos los ADC, DAC y memoria FLASH que componen el diseño de la FPGA. Para que la verificación se realice en cualquier laboratorio sin necesidad de conocimientos de diseño hardware, se ha diseñado el test mediante comandos AT. Se combina la parte de control mediante software (microblaze) y la parte hardware mediante los diferentes módulos programados en VHDL. La comunicación de los periféricos se realiza a través del bus PLB, ya que se trata de una Spartan3. Se ha programado una librería tanto para la comunicación de los registros de los ADC y DAC como la comunicación mediante SPI de la memoria FLASH. Dentro de la FPGA se dispone de tres dominios de reloj por lo que es necesario el uso de registros para evitar posibles casos de metaestabilidad.