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Desarrollo de una plataforma de interrogación óptica de bajo coste para la caracterización de sensores fotónicos basados en silicio poroso

RiuNet: Institutional repository of the Polithecnic University of Valencia

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Desarrollo de una plataforma de interrogación óptica de bajo coste para la caracterización de sensores fotónicos basados en silicio poroso

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Fuster Martínez, JF. (2017). Desarrollo de una plataforma de interrogación óptica de bajo coste para la caracterización de sensores fotónicos basados en silicio poroso. http://hdl.handle.net/10251/89993

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Title: Desarrollo de una plataforma de interrogación óptica de bajo coste para la caracterización de sensores fotónicos basados en silicio poroso
Author: Fuster Martínez, Joan Francesc
Director(s): García Rupérez, Jaime Ponce Alcántara, Salvador
UPV Unit: Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Electrónica - Departament d'Enginyeria Electrònica
Read date / Event date:
2017-09-27
Issued date:
Abstract:
The aim of this TFM is the implementation of a low cost sensing plataform for the analysis of fluids and gases in real time, using sensing structures base don porous silicon as optical transduction elements. The ...[+]


El objetivo de este TFM es el desarrollo de una plataforma de sensado de bajo coste que permita el análisis de fluidos y gases en tiempo real utilizando para ello estructuras basadas en silicio poroso como elementos de ...[+]
Subjects: Spectral evolution , Reflectivity , Porous silicon , Analysis system , Photonic Sensing , LabVIEW , Sensado fotónico , Sistema de análisis , Silicio poroso , Reflectividad , Evolución espectral.
Copyrigths: Reconocimiento (by)
Publisher:
Universitat Politècnica de València
degree: Máster Universitario en Ingeniería de Sistemas Electrónicos-Màster Universitari en Enginyeria de Sistemes Electrònics
Type: Tesis de máster

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