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Sistema para caracterización dieléctrica mediante resonadores coaxiales miniaturizados integrados en substrato

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Sistema para caracterización dieléctrica mediante resonadores coaxiales miniaturizados integrados en substrato

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dc.contributor.advisor Martínez Pérez, Jorge Daniel es_ES
dc.contributor.author Ferris Gómez, José David es_ES
dc.date.accessioned 2017-12-02T15:30:41Z
dc.date.available 2017-12-02T15:30:41Z
dc.date.created 2017-09-26
dc.date.issued 2017-12-02 es_ES
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/91791
dc.description.abstract The present TFM deals with the design, fabrication and experimental validation of a system for characterizing dielectric materials using substrate integrated coaxial sensors. In order to obtain a highly compact implementation, multi-layer ceramic materials in LTCC technology will be used for developing the sensor. It will consists on a capacitively-loaded coaxial resonator with an small open cavity for introducing the material under test. Thus, by obtaining the reflection coefficient of the one-port resonator it is possible to determine the resonant frequency and therefore the real part of the material permittivity. In order to perform this measurement, several RF circuits for signal generation, transmitted/reflected signal separation, as well as supply and control electronics must be developed. The TFM can be divided in the following phases: -Study of the state-of-the-art. -Analysis of substrate integrated coaxial resonators and design of an S-band coaxial sensor. -Study of correlation between resonant frequency and effective permittivity of the material. -Design of a one-port reflectometry system including source signal generation, RF circuitry and control electronics. -Manufacturing and assembly of the developed module. -Experimental validation. es_ES
dc.description.abstract En el presente TFM se aborda el diseño, fabricación y validación experimental de un sistema para la caracterización de materiales dieléctricos mediante sensores coaxiales integrados en substrato. Para la realización de una implementación extremadamente compacta se emplearán materiales cerámicos en tecnología LTCC para la realización del sensor, que constará de un resonador coaxial cargado capacitivamente incluyendo una pequeña cavidad abierta donde se puede introducir el material a caracterizar. De este modo, mediante la evaluación del coeficiente de reflexión del resonador medido con un único puerto, es posible determinar la frecuencia de resonancia y a partir de ella el valor de la parte real de la permitividad efectiva del material. Para poder llevar a cabo dicha medida es necesario desarrollar los circuitos de RF necesarios que incluirán los subsistemas de generación de señal de excitación del resonador, circuitería de RF para separación de señal transmitida y reflejada, así como electrónica de control y alimentación. El objetivo es desarrollar un módulo compacto que pueda ser implementado mediante tecnologías de bajo coste. La realización del trabajo implicará diferentes fases: -Estudio del estado del arte. -Análisis de los resonadores coaxiales integrados en substrato y diseño de un sensor en banda S. -Estudio de la dependencia entre la frecuencia de resonancia y la permitividad efectiva del material. -Desarrollo del sistema de reflectometría (generación de señal, RF y control) -Fabricación y esamblado -Validación experimental es_ES
dc.language Español es_ES
dc.publisher Universitat Politècnica de València es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject sensor es_ES
dc.subject LTCC es_ES
dc.subject resonador es_ES
dc.subject dileléctrico es_ES
dc.subject.classification TECNOLOGIA ELECTRONICA es_ES
dc.subject.other Máster Universitario en Ingeniería de Telecomunicación-Màster Universitari en Enginyeria de Telecomunicació es_ES
dc.title Sistema para caracterización dieléctrica mediante resonadores coaxiales miniaturizados integrados en substrato es_ES
dc.type Tesis de máster es_ES
dc.rights.accessRights Abierto es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación - Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Electrónica - Departament d'Enginyeria Electrònica es_ES
dc.description.bibliographicCitation Ferris Gómez, JD. (2017). Sistema para caracterización dieléctrica mediante resonadores coaxiales miniaturizados integrados en substrato. http://hdl.handle.net/10251/91791 es_ES
dc.description.accrualMethod TFGM es_ES
dc.relation.pasarela TFGM\72913 es_ES


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