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Magnetic and structural properties of stoichiometric thin Fe3Si/GaAs(001) films

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Magnetic and structural properties of stoichiometric thin Fe3Si/GaAs(001) films

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Ionescu, A.; Vaz, C.; Trypiniotis, T.; Gürtler, CM.; Vickers, ME.; García Miquel, ÁH.; Bland, J. (2005). Magnetic and structural properties of stoichiometric thin Fe3Si/GaAs(001) films. Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 286:72-76. doi:10.1016/j.jmmm.2004.09.042

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/105346

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[Cerrado]
Nombre: JMMM286-2005.pdf
Tamaño: 139.6Kb
Formato: PDF
Descripción: Versión editorial
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Metadatos del ítem

Título: Magnetic and structural properties of stoichiometric thin Fe3Si/GaAs(001) films
Autor: Ionescu, A. Vaz, C.A.F. Trypiniotis, T. Gürtler, C. M. Vickers, M. E. García Miquel, Ángel Héctor Bland, J.A.C.
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Electrónica - Departament d'Enginyeria Electrònica
Fecha difusión:
Resumen:
[EN] In this study, we report experimental results on the structural and magnetic properties of epitaxial Fe3Si films grown on GaAs(0 0 1) by co-evaporation. X-ray reflectivity shows that relatively smooth interfaces are ...[+]
Palabras clave: Fe3Si/GaAs(001) , Interface roughness , Magnetic moment , Schottky barrier , Spin detection
Derechos de uso: Cerrado
Fuente:
Journal of Magnetism and Magnetic Materials. (issn: 0304-8853 )
DOI: 10.1016/j.jmmm.2004.09.042
Editorial:
Elsevier
Versión del editor: http://doi.org/10.1016/j.jmmm.2004.09.042
Tipo: Artículo

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