Aplicación de la técnica de microscopía electrónica por emisión de campo con haz de iones focalizado en el estudio del patrimonio cultural: cerámica arqueológica y fotografía histórica

Abstract

[ES] Este trabajo nace a partir del interés por profundizar en el conocimiento y exploración de las capacidades de los distintos métodos de análisis de patrimonio cultural basados en técnicas nano invasivas (ng). La instrumentación de microscopía basada en la tecnología de haz de iones enfocado (FIB) ha ampliado notablemente el alcance de las aplicaciones industriales en el análisis de superficie de materiales en las últimas décadas. Sin embargo, esta técnica apenas se ha aplicado en el examen y análisis del patrimonio cultural. En este estudio se exponen los resultados obtenidos en la adaptación del sistema FIB con un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo convencional microanálisis de rayos X (FESEM-EDX) como una metodología de análisis de superficie aplicada al estudio de cerámica vidriada y a los procesos fotográficos históricos.

[EN] This work is born from the interest to deepen knowledge and explore capabilities of the different methods of analysis on cultural heritage based on nanoinvasive techniques (ng). Microscopy instrumentation based on focused ion beam (FIB) technology has significantly expanded the scope of industrial applications for material surface analysis in recent decades. However, this technique has scarcely been applied in the examination and analysis of cultural heritage. This study sets out the results obtained in adapting the FIB system with a conventional X-ray micro-analysis (FESEMEDX) field emission scanning electron microscope as a surface analysis methodology applied to the glazed ceramic study and historical photographic processes.