Evolución de la morfología de las películas delgadas de ZnO/colornte mediante electrodeposito catódico y sus propiedades

Abstract

[EN] Thin films of Zinc Oxide (ZnO) were grown on glass substrates conductive FTO (Fluorine-doped tin oxide) with a thickness of 400 nm. The hybrid films of ZnO and dye (N719) were grown on FTO conductive glass to a thickness of 600 nm. The growth of hybrid films of ZnO / N719 was made by two steps, cathodic electrodeposition and diping. The effect of increasing the temperature for growth of the hybrid films to 80 ºC allows absorption of the dye in the fixed structure of ZnO, completely modifying the ZnO structure of hexagonal wirtzita to be evaluated using the Scanning Electron Microscope (SEM) and X-ray diffraction (XRD). Morphological response study by Scanning Electron Microscope (SEM) showed that it is possible to obtain pores with a diameter <350 nm in the structure of ZnO completely changing its hexagonal shape. The response of optical properties in the hybrid ZnO films / N719, proved to be found two peaks of absorption in the spectrum, 340 nm and 660 nm when a metal-X adheres to the structure of ZnO.

[ES] Las películas delgadas de Óxido de Zinc (ZnO) fueron crecidas sobre sustratos de vidrio conductor de Flúor dopado de Oxígeno de Estaño (FTO) con un espesor de 400 nm. Las películas híbridas de ZnO y del colorante a base de Rutenio denominado N719, fueron crecidas sobre un vidrio conductor FTO con un espesor de 600 nm. El crecimiento de las películas híbridas de ZnO/N719 se hizo en dos etapas, la primera mediante el uso de la técnica electroquímica de Electrodepósito catódico y la segunda mediante la técnica de inmersión. El efecto del incremento de la temperatura para el crecimiento de las películas hibridas hasta 80ºC permite una adsorción del colorante en la estructura del ZnO fija, modificando por completo la estructura hexagonal wurtzita del ZnO que se evaluarán utilizando el Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) y Difracción de Rayos x (XRD). La respuesta del estudio Morfológico mediante el Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) demostró que es posible obtener poros con un diámetro menor a 350 nm en la estructura interna del ZnO modificando completamente su forma hexagonal. La respuesta del estudio de los espectros de las propiedades ópticas en las películas híbridas de ZnO/N719, demostraron que se puede encontrar dos puntos de máxima absorción, uno en longitudes de onda de 340 nm y otro en longitudes de onda de 660 nm, esto, cuando se adhiere un Metal-X en la estructura del ZnO.