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An Improved Agro Deep Learning Model for Detection of Panama Wilts Disease in Banana Leaves

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An Improved Agro Deep Learning Model for Detection of Panama Wilts Disease in Banana Leaves

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Sangeetha, R.; Logeshwaran, J.; Rocher, J.; Lloret, J. (2023). An Improved Agro Deep Learning Model for Detection of Panama Wilts Disease in Banana Leaves. AgriEngineering. 5(2):660-679. https://doi.org/10.3390/agriengineering5020042

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/204709

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Metadatos del ítem

Título: An Improved Agro Deep Learning Model for Detection of Panama Wilts Disease in Banana Leaves
Autor: Sangeetha, Ramachandran Logeshwaran, Jaganathan Rocher, Javier Lloret, Jaime
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Escuela Politécnica Superior de Gandia - Escola Politècnica Superior de Gandia
Universitat Politècnica de València. Departamento de Tecnología de Alimentos - Departament de Tecnologia d'Aliments
Fecha difusión:
Resumen:
[EN] Recently, Panama wilt disease that attacks banana leaves has caused enormous economic losses to farmers. Early detection of this disease and necessary preventive measures can avoid economic damage. This paper proposes ...[+]
Palabras clave: Panama wilts disease , Deep learning , Accuracy , Precision , Recall , F1-score
Derechos de uso: Reconocimiento (by)
Fuente:
AgriEngineering. (eissn: 2624-7402 )
DOI: 10.3390/agriengineering5020042
Editorial:
MDPI
Versión del editor: https://doi.org/10.3390/agriengineering5020042
Tipo: Artículo

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