- -

INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON PLASTIC DEFORMATION AND TEXTURE ANALYSIS

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

Compartir/Enviar a

Citas

Estadísticas

  • Estadisticas de Uso

INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON PLASTIC DEFORMATION AND TEXTURE ANALYSIS

Mostrar el registro completo del ítem

Amigó Borrás, V. (2012). INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON PLASTIC DEFORMATION AND TEXTURE ANALYSIS. Editorial Universitat Politècnica de València. http://hdl.handle.net/10251/21023

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/21023

Ficheros en el ítem

Thumbnail
Nombre: International ...
Tamaño: 9.782Mb
Formato: PDF
Descripción: Contenido
Abrir/Preview

Metadatos del ítem

Título: INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON PLASTIC DEFORMATION AND TEXTURE ANALYSIS
Autor: Amigó Borrás, Vicente
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Mecánica y de Materiales - Departament d'Enginyeria Mecànica i de Materials
Universitat Politècnica de València. Instituto de Tecnología de Materiales - Institut de Tecnologia de Materials
Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales - Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials
Fecha difusión:
Resumen:
This book includes communications made in the symposium, which we divided into two parts. The first communication including dedicated to plastic deformation of materials, metallic and ceramic. The second, which includes ...[+]
Palabras clave: Plastic deformation , Materials , Texture analysis
Derechos de uso: Reconocimiento - No comercial - Sin obra derivada (by-nc-nd)
ISBN: 978-84-8363-997-9
Editorial:
Editorial Universitat Politècnica de València
Título del congreso: INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON PLASTIC DEFORMATION AND TEXTURE ANALYSIS: Alcoi (Alicante) 2012
Lugar del congreso: Valencia
Fecha congreso: 2012
Descripción: The symposium is an international prestigious researchers meeting focused on plastic deformation of materials and microstructural characterization, especially through the microtexture analysis. Therefore, the first day is devoted to plastic deformation (hot and cold) and creep analysis of materials. The second aims to give researchers an overview of EBSD techniques (Electro Back Scattered Diffraction), new advances and applications in the technique are presented, as well as new developments in Diffraction, thus allowing to extend the microstructural analysis to TEM (Transmission Electron Microscopy).
Tipo: Libro

recommendations

 

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro completo del ítem