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Backscattering en microanillos de silicio

RiuNet: Institutional repository of the Polithecnic University of Valencia

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Backscattering en microanillos de silicio

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Ballesteros García, G. (2012). Backscattering en microanillos de silicio. http://hdl.handle.net/10251/27450.

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Title: Backscattering en microanillos de silicio
Author:
Director(s): Oton Nieto, Claudio José Martí Sendra, Javier
UPV Unit: Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación - Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació
Read date / Event date:
2012
Issued date:
Abstract:
[ES] En este trabajo presentamos un técnica experimental para caracterizar el backscattering en microanillos resonantes de silicio, junto con un modelo analítico capaz de reproducir los resultados experimentales. El modelo ...[+]


[EN] We present an experimental technique to characterize backscattering in silicon microring resonators, together with a simple analytical model that reproduces the experimental results. The model can extract all key ...[+]
Subjects: Resonadores , Backscattering , Tecnología SOI , Resonators , SOI technology
Copyrigths: Reconocimiento - No comercial - Sin obra derivada (by-nc-nd)
degree: Máster Universitario en Tecnologías, Sistemas y Redes de Comunicaciones-Màster Universitari en Tecnologies, Sistemes i Xarxes de Comunicacions
Type: Tesis de máster

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