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Backscattering en microanillos de silicio

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Backscattering en microanillos de silicio

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Ballesteros García, G. (2012). Backscattering en microanillos de silicio. http://hdl.handle.net/10251/27450.

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Título: Backscattering en microanillos de silicio
Autor:
Director(es): Oton Nieto, Claudio José Martí Sendra, Javier
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación - Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació
Fecha difusión:
Fecha acto/lectura: 2012
Resumen:
[ES] En este trabajo presentamos un técnica experimental para caracterizar el backscattering en microanillos resonantes de silicio, junto con un modelo analítico capaz de reproducir los resultados experimentales. El modelo ...[+]


[EN] We present an experimental technique to characterize backscattering in silicon microring resonators, together with a simple analytical model that reproduces the experimental results. The model can extract all key ...[+]
Palabras clave: Resonadores , Backscattering , Tecnología SOI , Resonators , SOI technology
Derechos de uso: Reconocimiento - Sin obra derivada - No comercial (by-nd-nc)
Titulación: Máster Universitario en Tecnologías, Sistemas y Redes de Comunicaciones-Màster Universitari en Tecnologies, Sistemes i Xarxes de Comunicacions
Tipo: Tesis de máster

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