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RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia
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| Characterizing and modeling backscattering in silicon microring resonators | 371 |
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| agosto 2024 | septiembre 2024 | octubre 2024 | noviembre 2024 | diciembre 2024 | enero 2025 | febrero 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Characterizing and modeling backscattering in silicon microring resonators | 0 | 0 | 0 | 0 | 2 | 10 | 0 |
Visitas al fichero
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|---|---|
| 7C047841-9CD2-A3A7-80934E5943A76560_224629.pdf | 622 |
| 7C047841-9CD2-A3A7-80934E5943A76560_224629.pdf.jpg | 288 |
Países con más visualizaciones
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|---|---|
| Estados Unidos | 234 |
| China | 26 |
| Alemania | 26 |
| Francia | 18 |
| Irlanda | 13 |
| Suecia | 13 |
| España | 11 |
| Vietnam | 6 |
| India | 4 |
| Holanda | 3 |
Ciudades con más visualizaciones
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Ashburn | 102 |
| Redmond | 17 |
| Alameda | 14 |
| Dublin | 13 |
| Louisville | 12 |
| Beijing | 8 |
| Mountain View | 8 |
| Valencia | 7 |
| Hanoi | 6 |
| Nanjing | 6 |
Universitat Politècnica de València. Unidad de Documentación Científica de la Biblioteca (+34) 96 387 70 85 · RiuNet@bib.upv.es
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