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Analyzing the impact of intermittent faults on microprocessors applying fault injection

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Analyzing the impact of intermittent faults on microprocessors applying fault injection

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Nombre: Gil;Gracia-Morán; ...
Tamaño: 664.5Kb
Formato: PDF
Descripción: Versión editorial
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dc.contributor.author Gil Tomás, Daniel Antonio es_ES
dc.contributor.author Gracia-Morán, Joaquín es_ES
dc.contributor.author Baraza Calvo, Juan Carlos es_ES
dc.contributor.author Saiz-Adalid, Luis-J. es_ES
dc.contributor.author Gil, Pedro es_ES
dc.date.accessioned 2014-03-03T08:42:32Z
dc.date.issued 2012-12
dc.identifier.issn 0740-7475
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/36081
dc.description.abstract Intermittent faults, being serious concerns for deep-submicron integrated circuits, are not well studied in the literature. This paper performs fault injection simulation to analyze the impact of intermittent faults, which is an important step towards the development of mitigation techniques for such threats. es_ES
dc.description.sponsorship This work was supported by the Spanish Government under the project TIN2009-13825. en_EN
dc.format.extent 8 es_ES
dc.language Inglés es_ES
dc.publisher Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) es_ES
dc.relation.ispartof IEEE Design and Test of Computers es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject Reliability es_ES
dc.subject.classification ARQUITECTURA Y TECNOLOGIA DE COMPUTADORES es_ES
dc.title Analyzing the impact of intermittent faults on microprocessors applying fault injection es_ES
dc.type Artículo es_ES
dc.embargo.lift 10000-01-01
dc.embargo.terms forever es_ES
dc.identifier.doi 10.1109/MDT.2011.2179514
dc.relation.projectID info:eu-repo/grantAgreement/MICINN//TIN2009-13825/ES/Sistemas Empotrados Seguros Y Confiables Basados En Componentes/ es_ES
dc.rights.accessRights Cerrado es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Departamento de Informática de Sistemas y Computadores - Departament d'Informàtica de Sistemes i Computadors es_ES
dc.description.bibliographicCitation Gil Tomás, DA.; Gracia-Morán, J.; Baraza Calvo, JC.; Saiz-Adalid, L.; Gil, P. (2012). Analyzing the impact of intermittent faults on microprocessors applying fault injection. IEEE Design and Test of Computers. 29(6):66-73. https://doi.org/10.1109/MDT.2011.2179514 es_ES
dc.description.accrualMethod S es_ES
dc.relation.publisherversion http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2011.2179514 es_ES
dc.description.upvformatpinicio 66 es_ES
dc.description.upvformatpfin 73 es_ES
dc.type.version info:eu-repo/semantics/publishedVersion es_ES
dc.description.volume 29 es_ES
dc.description.issue 6 es_ES
dc.relation.senia 207646
dc.contributor.funder Ministerio de Ciencia e Innovación es_ES


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