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Epipolar image rectification through geometric algorithms with unknown parameters

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Epipolar image rectification through geometric algorithms with unknown parameters

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Herráez Boquera, J.; Denia Rios, JL.; Navarro Esteve, PJ.; Rodríguez Pereña, J.; Martín Sánchez, MT. (2013). Epipolar image rectification through geometric algorithms with unknown parameters. Journal of Electronic Imaging. 22(4). doi:10.1117/1.JEI.22.4.043021

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/43120

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Título: Epipolar image rectification through geometric algorithms with unknown parameters
Autor: Herráez Boquera, José Denia Ríos, José Luis Navarro Esteve, Pablo José Rodríguez Pereña, Jaime Martín Sánchez, María Teresa
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Cartográfica Geodesia y Fotogrametría - Departament d'Enginyeria Cartogràfica, Geodèsia i Fotogrametria
Universitat Politècnica de València. Departamento de Expresión Gráfica Arquitectónica - Departament d'Expressió Gràfica Arquitectònica
Fecha difusión:
Resumen:
Image processing in photogrammetry is commonly used for scene reconstruction. Although two-dimensional applications can be solved using isolated images, reconstruction of three-dimensional scenes usually requires the use ...[+]
Palabras clave: Image processing , Projective rectification , Uncalibrated images , Fundamental matrix , Calibration , Motion , Space , Video , Vision , Photogrammetry , Matrices , Cameras , Algorithms
Derechos de uso: Reserva de todos los derechos
Fuente:
Journal of Electronic Imaging. (issn: 1017-9909 ) (eissn: 1560-229X )
DOI: 10.1117/1.JEI.22.4.043021
Editorial:
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1117/1.JEI.22.4.043021
Descripción: Herráez Boquera, J., Denia Rios, J.L., Navarro Esteve, P.J., Rodríguez Pereña, J., Martín Sánchez M.T."Epipolar image rectification through geometric algorithms with unknown parameters". JJ. Electron. Imaging. 22(4), 043021 (Dec 02, 2013). © (2013) Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers. One print or electronic copy may be made for personal use only. Systematic reproduction and distribution, duplication of any material in this paper for a fee or for commercial purposes, or modification of the content of the paper are prohibited. http://dx.doi.org/10.1117/1.JEI.22.4.043021
Tipo: Artículo

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