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Patent Overlay Mapping: Visualizing Technological Distance

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Patent Overlay Mapping: Visualizing Technological Distance

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Kay L.; Newman, N.; Youtie, J.; Porter A.L.; Rafols García, I. (2014). Patent Overlay Mapping: Visualizing Technological Distance. Journal of the American Society for Information Science and Technology. 65(12):2432-2443. doi:10.1002/asi.23146

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/44358

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Metadatos del ítem

Título: Patent Overlay Mapping: Visualizing Technological Distance
Autor:
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Instituto de Gestión de la Innovación y del Conocimiento - Institut de Gestió de la Innovació i del Coneixement
Fecha difusión:
Resumen:
This paper presents a new global patent map that represents all technological categories and a method to locate patent data of individual organizations and technological fields on the global map. This overlay map technique ...[+]
Palabras clave: Information mapping , Innovation , Patents
Derechos de uso: Reserva de todos los derechos
Fuente:
Journal of the American Society for Information Science and Technology. (issn: 1532-2882 )
DOI: 10.1002/asi.23146
Editorial:
Association for Information Science and Technology (ASIS&T): JASIS&T
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1002/asi.23146
Tipo: Artículo

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