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Refractive index calculation from echo interference in pulsed terahertz spectroscopy

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Refractive index calculation from echo interference in pulsed terahertz spectroscopy

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Sanjuan, F.; Vidal Rodriguez, B. (2014). Refractive index calculation from echo interference in pulsed terahertz spectroscopy. Electronics Letters. 50(4):308-309. https://doi.org/10.1049/el.2013.3937

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/48196

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[Cerrado]
Nombre: F. Sanjuan;Vidal - ...
Tamaño: 240.6Kb
Formato: PDF
Descripción: Versión editorial
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Metadatos del ítem

Título: Refractive index calculation from echo interference in pulsed terahertz spectroscopy
Autor: Sanjuan, Federico Vidal Rodriguez, Borja
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Comunicaciones - Departament de Comunicacions
Universitat Politècnica de València. Instituto Universitario de Tecnología Nanofotónica - Institut Universitari de Tecnologia Nanofotònica
Fecha difusión:
Resumen:
A method for calculating the average refractive index of a sample using transmission terahertz time-domain spectroscopy in a single measurement is presented. The refractive index is derived from the analysis of the ...[+]
Palabras clave: Echo suppression , Discrete Fourier transforms , Electromagnetic wave reflection , Time-domain analysis , Terahertz spectroscopy , Microwave reflectometry , Refractive index measurement , Fabry-Perot interferometers
Derechos de uso: Cerrado
Fuente:
Electronics Letters. (issn: 0013-5194 )
DOI: 10.1049/el.2013.3937
Editorial:
Institution of Engineering and Technology (IET)
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1049/el.2013.3937
Código del Proyecto:
info:eu-repo/grantAgreement/MINECO//TEC2012-35797/ES/ESPECTROSCOPIA DE TERAHERCIOS EN FIBRA OPTICA PARA APLICACIONES DE SENSADO DE MATERIALES/
Agradecimientos:
The authors thank the Erasmus Mundus scholarship and to the Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas (Conicet) for supporting the work of Federico Sanjuan and project TEC2012-35797 for partially financing ...[+]
Tipo: Artículo

References

Duvillaret, L., Garet, F., & Coutaz, J.-L. (2000). Influence of noise on the characterization of materials by terahertz time-domain spectroscopy. Journal of the Optical Society of America B, 17(3), 452. doi:10.1364/josab.17.000452

Grischkowsky, D., Keiding, S., van Exter, M., & Fattinger, C. (1990). Far-infrared time-domain spectroscopy with terahertz beams of dielectrics and semiconductors. Journal of the Optical Society of America B, 7(10), 2006. doi:10.1364/josab.7.002006

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