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Refractive index calculation from echo interference in pulsed terahertz spectroscopy

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Refractive index calculation from echo interference in pulsed terahertz spectroscopy

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Nombre: F. Sanjuan;Vidal - ...
Tamaño: 240.6Kb
Formato: PDF
Descripción: Versión editorial
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dc.contributor.author Sanjuan, Federico es_ES
dc.contributor.author Vidal Rodriguez, Borja es_ES
dc.date.accessioned 2015-03-23T15:16:51Z
dc.date.available 2015-03-23T15:16:51Z
dc.date.issued 2014-02-13
dc.identifier.issn 0013-5194
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/48196
dc.description.abstract A method for calculating the average refractive index of a sample using transmission terahertz time-domain spectroscopy in a single measurement is presented. The refractive index is derived from the analysis of the frequency-domain interference caused by Fabry-Pérot reflections in the sample through the discrete Fourier transform of the spectrum module. This approach is simple and fast (not requiring a reference measurement), improves sensitivity over direct time-domain analysis and allows the derivation of the refractive index in a specific frequency window. The method can also be used to identify unwanted reflections in the experimental setup. es_ES
dc.description.sponsorship The authors thank the Erasmus Mundus scholarship and to the Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas (Conicet) for supporting the work of Federico Sanjuan and project TEC2012-35797 for partially financing this research. Also, the contribution of Dr. Jorge Tocho to the academic development of Federico Sanjuan is acknowledged. en_EN
dc.language Inglés es_ES
dc.publisher Institution of Engineering and Technology (IET) es_ES
dc.relation.ispartof Electronics Letters es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject Echo suppression es_ES
dc.subject Discrete Fourier transforms es_ES
dc.subject Electromagnetic wave reflection es_ES
dc.subject Time-domain analysis es_ES
dc.subject Terahertz spectroscopy es_ES
dc.subject Microwave reflectometry es_ES
dc.subject Refractive index measurement es_ES
dc.subject Fabry-Perot interferometers es_ES
dc.subject.classification TEORIA DE LA SEÑAL Y COMUNICACIONES es_ES
dc.title Refractive index calculation from echo interference in pulsed terahertz spectroscopy es_ES
dc.type Artículo es_ES
dc.identifier.doi 10.1049/el.2013.3937
dc.relation.projectID info:eu-repo/grantAgreement/MINECO//TEC2012-35797/ES/ESPECTROSCOPIA DE TERAHERCIOS EN FIBRA OPTICA PARA APLICACIONES DE SENSADO DE MATERIALES/ es_ES
dc.rights.accessRights Cerrado es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Departamento de Comunicaciones - Departament de Comunicacions es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Instituto Universitario de Tecnología Nanofotónica - Institut Universitari de Tecnologia Nanofotònica es_ES
dc.description.bibliographicCitation Sanjuan, F.; Vidal Rodriguez, B. (2014). Refractive index calculation from echo interference in pulsed terahertz spectroscopy. Electronics Letters. 50(4):308-309. https://doi.org/10.1049/el.2013.3937 es_ES
dc.description.accrualMethod S es_ES
dc.relation.publisherversion http://dx.doi.org/10.1049/el.2013.3937 es_ES
dc.description.upvformatpinicio 308 es_ES
dc.description.upvformatpfin 309 es_ES
dc.type.version info:eu-repo/semantics/publishedVersion es_ES
dc.description.volume 50 es_ES
dc.description.issue 4 es_ES
dc.relation.senia 267141
dc.contributor.funder European Commission es_ES
dc.contributor.funder Ministerio de Economía y Competitividad es_ES
dc.contributor.funder Erasmus+ es_ES
dc.contributor.funder Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas, Argentina es_ES
dc.description.references Duvillaret, L., Garet, F., & Coutaz, J.-L. (2000). Influence of noise on the characterization of materials by terahertz time-domain spectroscopy. Journal of the Optical Society of America B, 17(3), 452. doi:10.1364/josab.17.000452 es_ES
dc.description.references Grischkowsky, D., Keiding, S., van Exter, M., & Fattinger, C. (1990). Far-infrared time-domain spectroscopy with terahertz beams of dielectrics and semiconductors. Journal of the Optical Society of America B, 7(10), 2006. doi:10.1364/josab.7.002006 es_ES


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