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Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X

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Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X

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dc.contributor.author Gallardo Bermell, Sergio es_ES
dc.contributor.author Pozuelo, Fausto es_ES
dc.contributor.author Querol Vives, Andrea es_ES
dc.contributor.author Ródenas Diago, José es_ES
dc.contributor.author Verdú Martín, Gumersindo Jesús
dc.date.accessioned 2015-04-21T15:08:54Z
dc.date.issued 2013
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/49076
dc.description.abstract [ES] En este trabajo se propone el uso de un detector flat panel junto a una cuña de polimetilmetacrilato (PMMA) para estimar el espectro de rayos X utilizando el método de Monte Carlo y técnicas de reconstrucción. El código MCNP5 se ha utilizado para modelar distintos flat panel y obtener las curvas de dosis y las funciones respuesta del sistema. La mayor parte de los flat panel actuales utilizan materiales que presentan discontinuidades debidas al borde K en el coeficiente másico de absorción de energía lo que influye en la matriz de respuesta y, por tanto, en los espectros reconstruidos. Distintos métodos de reconstrucción se han utilizado para obtener el espectro de rayos X conociendo la curva de dosis y la función respuesta. Los resultados demuestran que el método truncado modificado de descomposición de valores singulares (MTSVD) es apropiado para reconstruir los espectros de rayos X con los materiales centelleadores estudiados en el presente trabajo. es_ES
dc.description.sponsorship A la beca de Formación de Profesorado Universitario (FPU) del Ministerio de Educación y Ciencia, referencia AP2009-2600. es_ES
dc.format.extent 8 es_ES
dc.language Español es_ES
dc.publisher Grupo Senda es_ES
dc.relation MEC/FPU/AP2009‐2600 es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject Monte Carlo es_ES
dc.subject MCNP5 es_ES
dc.subject Flat panel es_ES
dc.subject Centelleadores es_ES
dc.subject MTSVD es_ES
dc.subject.classification INGENIERIA NUCLEAR es_ES
dc.title Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X es_ES
dc.type Comunicación en congreso es_ES
dc.embargo.lift 10000-01-01
dc.embargo.terms forever es_ES
dc.rights.accessRights Abierto es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Instituto de Seguridad Industrial, Radiofísica y Medioambiental - Institut de Seguretat Industrial, Radiofísica i Mediambiental es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Departamento de Ingeniería Química y Nuclear - Departament d'Enginyeria Química i Nuclear es_ES
dc.description.bibliographicCitation Gallardo Bermell, S.; Pozuelo, F.; Querol Vives, A.; Ródenas Diago, J.; Verdú Martín, GJ. (2013). Aplicación del Método de Monte Carlo en el Análisis de Materiales Utilizados en Detectores Flat Panel para Obtener Espectros de Rayos X. Grupo Senda. http://hdl.handle.net/10251/49076 es_ES
dc.description.accrualMethod S es_ES
dc.relation.conferencename 39º Reunión Anual de la Sociedad Nuclear Española (SNE), en las instalaciones de “FiraReus” es_ES
dc.relation.conferencedate September 25-27, 2013 es_ES
dc.relation.conferenceplace Reus, Spain es_ES
dc.relation.publisherversion http://www.inscripcioneventos.com/906809/docs/906809-565814.doc es_ES
dc.type.version info:eu-repo/semantics/publishedVersion es_ES
dc.relation.senia 260262
dc.contributor.funder Ministerio de Educación y Ciencia es_ES


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