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Thru reflect line calibration for empty substrate integrated waveguide with microstrip transitions

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Thru reflect line calibration for empty substrate integrated waveguide with microstrip transitions

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Fernández Berlanga, M.; Ballesteros Garrido, J.; Martínez Cano, L.; Esteban González, H.; Belenguer Martínez, A. (2015). Thru reflect line calibration for empty substrate integrated waveguide with microstrip transitions. Electronics Letters. 51(16):1274-1276. doi:10.1049/el.2015.1393.

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/64593

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Título: Thru reflect line calibration for empty substrate integrated waveguide with microstrip transitions
Autor:
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Departamento de Comunicaciones - Departament de Comunicacions
Fecha difusión:
Resumen:
In past years, a great number of substrate integrated circuits have been developed. Among these new transmission lines, the substrate integrated waveguide (SIW) has received special attention. Although the quality factor ...[+]
Derechos de uso: Reserva de todos los derechos
Fuente:
Electronics Letters. (issn: 0013-5194 )
DOI: 10.1049/el.2015.1393
Editorial:
Institution of Engineering and Technology (IET)
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1049/el.2015.1393
Tipo: Artículo

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