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Desarrollo de una plataforma para la medida de circuitos integrados ópticos

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Desarrollo de una plataforma para la medida de circuitos integrados ópticos

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Benavente Arqueros, D. (2017). Desarrollo de una plataforma para la medida de circuitos integrados ópticos. http://hdl.handle.net/10251/91163

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/91163

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[Cerrado]
Nombre: benavente_arquero ...
Tamaño: 35.61Mb
Formato: PDF
Descripción: PROYECTO FINAL DE ...
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Metadatos del ítem

Título: Desarrollo de una plataforma para la medida de circuitos integrados ópticos
Autor: Benavente Arqueros, Daniel
Director(es): Sanchis Kilders, Pablo
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación - Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació
Fecha acto/lectura:
2017-09-21
 Fecha difusión:
Resumen:
Este proyecto se basa en adaptar un banco de alineamiento que se utilizaba para pigtailing y convertirlo en una plataforma para el alineamiento y la medida de dispositivos fotónicos. El objetivo final es que los investigadores ...[+]
Palabras clave: Fotónica, alineamiento, gratings, automatización, plataforma, medidas
Derechos de uso: Cerrado
Editorial:
Universitat Politècnica de València
Titulación: Ingeniería en Telecomunicación-Enginyeria en Telecomunicació
Tipo: Proyecto/Trabajo fin de carrera/grado

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