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Estudio de la no linealidad de segundo orden en silicio deformado para aplicaciones de conmutación todo-óptica

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Estudio de la no linealidad de segundo orden en silicio deformado para aplicaciones de conmutación todo-óptica

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Nombre: VAN - Estudio de ...
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Formato: PDF
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dc.contributor.advisor Sanchis Kilders, Pablo es_ES
dc.contributor.author Van Roye, Steven es_ES
dc.date.accessioned 2017-12-12T17:14:02Z
dc.date.available 2017-12-12T17:14:02Z
dc.date.created 2016-07-18
dc.date.issued 2017-12-12 es_ES
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/92584
dc.description.abstract The goal of the thesis will be to study and optimize the second-order non-linearity generated in strained silicon for enabling all-optical switching applications. The strained silicon will be induced by a highly stressed SiN layer on top of the silicon waveguide. The work will encompass design and simulation, fabrication and characterization. es_ES
dc.language Español es_ES
dc.publisher Universitat Politècnica de València es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject fabrication and characterization. es_ES
dc.subject silicio es_ES
dc.subject circuitos integrados fotónicos es_ES
dc.subject no linealidades es_ES
dc.subject conmutación es_ES
dc.subject.classification TEORIA DE LA SEÑAL Y COMUNICACIONES es_ES
dc.subject.other Máster Universitario en Tecnologías, Sistemas y Redes de Comunicaciones-Màster Universitari en Tecnologies, Sistemes i Xarxes de Comunicacions es_ES
dc.title Estudio de la no linealidad de segundo orden en silicio deformado para aplicaciones de conmutación todo-óptica es_ES
dc.type Tesis de máster es_ES
dc.rights.accessRights Abierto es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación - Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Departamento de Comunicaciones - Departament de Comunicacions es_ES
dc.description.bibliographicCitation Van Roye, S. (2016). Estudio de la no linealidad de segundo orden en silicio deformado para aplicaciones de conmutación todo-óptica. http://hdl.handle.net/10251/92584 es_ES
dc.description.accrualMethod TFGM es_ES
dc.relation.pasarela TFGM\44102 es_ES


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