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Análisis de diferentes técnicas de metrología mediante visión artificial

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Análisis de diferentes técnicas de metrología mediante visión artificial

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Zanon Heddings, FJ. (2017). Análisis de diferentes técnicas de metrología mediante visión artificial. http://hdl.handle.net/10251/96368

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10251/96368

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Nombre: memoria PFC_final ...
Tamaño: 2.149Mb
Formato: PDF
Descripción: Memoria
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Metadatos del ítem

Título: Análisis de diferentes técnicas de metrología mediante visión artificial
Autor: Zanon Heddings, Florencio Jonatan
Director(es): Tornero Montserrat, Josep Solanes Galbis, Juan Ernesto
Entidad UPV: Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales - Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials
Fecha acto/lectura:
2017-09
 Fecha difusión:
Resumen:
Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales (Riunet)


[ES] Trata de estudiar las técnicas más actuales de medición sub-pixel, esgrimiendo tanto sus bondades como sus limitaciones, de cara a proponer una solución industrial robusta y viable para mejorar los actuales sistemas ...[+]
Palabras clave: Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales , Metrología , Visión artificial , Medición Subpíxel
Derechos de uso: Cerrado
Editorial:
Universitat Politècnica de València
Titulación: Ingeniero Industrial-Enginyer Industrial
Tipo: Proyecto/Trabajo fin de carrera/grado

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