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Análisis de diferentes técnicas de metrología mediante visión artificial

RiuNet: Repositorio Institucional de la Universidad Politécnica de Valencia

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Análisis de diferentes técnicas de metrología mediante visión artificial

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Nombre: memoria PFC_final ...
Tamaño: 2.149Mb
Formato: PDF
Descripción: Memoria
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dc.contributor.advisor Tornero Montserrat, Josep es_ES
dc.contributor.advisor Solanes Galbis, Juan Ernesto es_ES
dc.contributor.author Zanon Heddings, Florencio Jonatan es_ES
dc.date.accessioned 2018-02-01T08:15:03Z
dc.date.available 2018-02-01T08:15:03Z
dc.date.created 2017-09
dc.date.issued 2018-02-01
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10251/96368
dc.description.abstract Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales (Riunet) es_ES
dc.description.abstract [ES] Trata de estudiar las técnicas más actuales de medición sub-pixel, esgrimiendo tanto sus bondades como sus limitaciones, de cara a proponer una solución industrial robusta y viable para mejorar los actuales sistemas de medición basados en Visión Artificial. es_ES
dc.language Español es_ES
dc.publisher Universitat Politècnica de València es_ES
dc.rights Reserva de todos los derechos es_ES
dc.subject Consulta en la Biblioteca ETSI Industriales es_ES
dc.subject Metrología es_ES
dc.subject Visión artificial es_ES
dc.subject Medición Subpíxel es_ES
dc.subject.classification INGENIERIA DE SISTEMAS Y AUTOMATICA es_ES
dc.subject.other Ingeniero Industrial-Enginyer Industrial es_ES
dc.title Análisis de diferentes técnicas de metrología mediante visión artificial es_ES
dc.type Proyecto/Trabajo fin de carrera/grado es_ES
dc.rights.accessRights Cerrado es_ES
dc.contributor.affiliation Universitat Politècnica de València. Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales - Escola Tècnica Superior d'Enginyers Industrials es_ES
dc.description.bibliographicCitation Zanon Heddings, FJ. (2017). Análisis de diferentes técnicas de metrología mediante visión artificial. http://hdl.handle.net/10251/96368 es_ES
dc.description.accrualMethod Archivo delegado es_ES


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